يعرض 1 - 10 نتائج من 152 نتيجة بحث عن '"Chang, B.J."', وقت الاستعلام: 1.04s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: International Electron Devices Meeting 2000. Technical Digest. IEDM (Cat. No.00CH37138) Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2000. IEDM '00. Technical Digest. International. :705-708 2000

    Relation: International Electron Devices Meeting. Technical Digest. IEDM

  2. 2
    مؤتمر

    المؤلفون: Liao, C.H., Pang, S.L., Chang, B.J., Lu, K.L.

    المصدر: 2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (IEEE Cat. No.00TH8479) Plasma process-induced damage Plasma Process-Induced Damage, 2000 5th International Symposium on. :85-88 2000

    Relation: 2000 5th International Symposium on Plasma Process-Induced Damage

  3. 3
  4. 4
    مؤتمر

    المصدر: Proceedings of 1st International Symposium on Plasma Process-Induced Damage Plasma Process-Induced Damage, 1996 1st International Symposium on. :105-108 1996

    Relation: 1st International Symposium on Plasma Process-Induced Damage

  5. 5
  6. 6
    دورية أكاديمية
  7. 7
  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    دورية أكاديمية
  10. 10
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.