يعرض 1 - 1 نتائج من 1 نتيجة بحث عن '"Chayachinda, Joe"', وقت الاستعلام: 0.80s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Fast aging degradation rate prediction during production test

    المؤلفون: Wang, Xiaoxiao, Winemberg, LeRoy, Haggag, Amr, Chayachinda, Joe, Saluja, Amandeep, Tehranipoor, Mohammad

    المصدر: 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2014 IEEE International. :6B.5.1-6B.5.5 Jun, 2014

    Relation: 2014 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء