المؤلفون: Chen, J. P. J., Schmidt, K. E., Kirian, R. A., Donatelli, J. J.

المصدر: 2019 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) Image Processing (ICIP), 2019 IEEE International Conference onhttps://idams.ieee.org/idams/custom/properties/properties.jsp#. :1148-1152 Sep, 2019

Relation: 2019 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP)

المؤلفون: Chen, J. P. J., Schmidt, K. E., Spence, J. C. H., Kirian, R. A.

مصطلحات موضوعية: Physics - Instrumentation and Detectors, Computer Science - Computer Vision and Pattern Recognition

URL الوصول: http://arxiv.org/abs/2101.11709

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Mobley, B. R., Schmidt, K. E., Chen, J. P. J., Kirian, R. A.

المصدر: Acta Crystallographica. Section A, Foundations & Advances; May2022, Vol. 78 Issue 3, p200-211, 12p

مصطلحات موضوعية: X-ray lasers, DIFFRACTION patterns, X-ray imaging, DEGREES of freedom, ALGORITHMS, FREE electron lasers

المؤلفون: Chen, J. J. J., Taylor, M. P.

المصدر: JOM: The Journal of The Minerals, Metals & Materials Society (TMS). February 2012 64(2):302-308

المؤلفون: Huang, Y. J.^{Aff144, Aff244}, Chiu, Y. L.^{Aff344, Aff444}, Shen, J., Chen, J. J. J., Sun, J. F.

المصدر: Journal of Materials Research. 24(3):993-997

المؤلفون: Chen, J. J. J., Zhao, J. C.

المصدر: Journal of Thermal Science. September 2005 14(3):267-271

المؤلفون: Qian, K., Chen, Z. D., Chen, J. J. J.

المصدر: Journal of Applied Electrochemistry. October 1998 28(10):1141-1145

المؤلفون: Chen, Z. D., Chen, J. J. J.

المصدر: Metallurgical and Materials Transactions B. June 1998 29(3):563-567

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.