يعرض 1 - 2 نتائج من 2 نتيجة بحث عن '"Chen, Zhwen"', وقت الاستعلام: 0.95s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Reliability of Wafer-Level Ultra-Thinning down to 3 µm using 20 nm-Node DRAMs

    المؤلفون: Chen, Zhwen, Kim, Youngsuk, Fukuda, Tadashi, Sakui, Koji, Ohba, Takayuki, Kobayashi, Tatsuji, Obara, Takashi

    المصدر: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2021 IEEE International. :1-6 Mar, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء