المؤلفون: Lai, C. M., Lin, C. T., Cheng, L. W., Hsu, C. H., Tseng, J. T., Chiang, T. F., Chou, C. H., Chen, Y. W., Yu, C. H., Hsu, S. H., Chen, C. G., Lee, Z. C., Lin, J. F., Yang, C. L., Ma, G. H., Chien, S. C.

المصدر: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2009 IEEE International. :1-4 Dec, 2009

Relation: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

المؤلفون: Chen, Y. W., Lai, C. M., Chiang, T. F., Cheng, L. W., Yu, C. H., Chou, C. H., Hsu, C. H., Chang, W. Y., Wu, T. B., Lin, C. T.

المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 31(11):1290-1292 Nov, 2010

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Kuo, H. W., Chiang, T. F., Lo, I. I., Chan, C. C., Lai, J. S., Wang, J. D.

المصدر: Bulletin of Environmental Contamination and Toxicology. November 1997 59(5):708-714

المؤلفون: Chao, C. K., Chiang, T. F.

المصدر: International Journal of Fracture. September 1996 75(3):229-245

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Cheng, S. L., Lin, H. H., He, J. H., Chiang, T. F., Yu, C. H., Chen, L. J., Yang, C. K., Wu, D. Y., Chien, S. C., Chen, W. C.

المصدر: Journal of Applied Physics; 7/15/2002, Vol. 92 Issue 2, p910, 4p, 3 Black and White Photographs, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: ELECTRONIC structure, GERMANIUM, AMORPHOUS semiconductors, TRANSMISSION electron microscopy

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.