-
1مؤتمر
المؤلفون: Khwa, W. S., Akarvardar, K., Chen, Y. S., Chiu, Y. C., Liu, J. C., Wu, J. J., Lee, H. Y., Yu, S. M., Lee, C. H., Chen, T. C., Lin, Y. C., Hsu, C. F., Lee, T. Y., Ku, T. K., Kuo, C. H., Wu, J. Y., Bao, X. Y., Chang, C. S., Chih, Y. D., Wong, H.-S. P., Chang, M. F.
المصدر: 2021 Symposium on VLSI Technology VLSI Technology, 2021 Symposium on. :1-2 Jun, 2021
Relation: 2021 Symposium on VLSI Technology
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-F., Wu, J.-J., Chien, T.-F., Liu, Y.-C., Yang, T.-C., Shen, W.-C., King, Y.-C., Lin, C. J., Lin, K.-F., Chih, Y.-D., Chang, J.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 50(11):2786-2795 Nov, 2015
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-F., Lin, Y.-F., Liu, Y.-C., Wu, J.-J., Shen, S.-J., Tsai, W.-C., Chih, Y.-D.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 50(9):2188-2198 Sep, 2015
-
4مؤتمر
المؤلفون: Cho, Caleb Y-S, Wang, J C, Huang, Lion, Weng, Milo, Lin, Y F, Lee, C F, Lien, C W, Feng, H C, Yang, Tassa, Liao, S P, Wu, J J, Chih, Y D, Natarajan, Sreedhar
المصدر: 2013 International Symposium onVLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT) VLSI Design, Automation, and Test (VLSI-DAT), 2013 International Symposium on. :1-4 Apr, 2013
Relation: 2013 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-F., Kuo, C.-C., Sheu, S.-S., Lin, C.-J., King, Y.-C., Chen, F. T., Ku, T.-K., Tsai, M.-J., Wu, J.-J., Chih, Y.-D.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 49(4):908-916 Apr, 2014
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-F., Wu, C.-W., Kuo, C.-C., Shen, S.-J., Yang, S.-M., Lin, K.-F., Shen, W.-C., King, Y.-C., Lin, C.-J., Chih, Y.-D.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 48(9):2250-2259 Sep, 2013
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Chang, M.-F., Shen, S.-J., Liu, C.-C., Wu, C.-W., Lin, Y.-F., King, Y.-C., Lin, C.-J., Liao, H.-J., Chih, Y.-D., Yamauchi, H.
المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 48(3):864-877 Mar, 2013
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Lien, C.-W., Wu, H.-Y., Tsai, C.-W., Huang, C.-M., Chih, Y.-D., Lee, T.-L., Lin, C. J.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 59(7):1899-1905 Jul, 2012
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Tseng, Y. H., Huang, C.-E., Kuo, C.-H., Chih, Y.-D., King, Y.-C., Lin, C. J.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(1):53-58 Jan, 2011
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Mei, C. Y., Shen, W. C., Wu, C. H., Chih, Y.-D., King, Y.-C., Lin, C. J., Tsai, M.-J., Tsai, K.-H., Chen, F. T.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 34(10):1253-1255 Oct, 2013
Full Text Finder