المؤلفون: Kim, Beomjun, Kim, Juhyun, Cho, Wookhyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Kim, Jinsung

المصدر: 2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2018

Relation: 2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

المؤلفون: Song, Insang, Lee, Jaejin, Byeon, Chulwoo, Cho, Seongjun, Kim, Hongyi, Oh, Innyeal, Park, Chulsoon

المصدر: 2013 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest (MTT) Microwave Symposium Digest (IMS), 2013 IEEE MTT-S International. :1-4 Jun, 2013

Relation: 2013 IEEE/MTT-S International Microwave Symposium - MTT 2013

المؤلفون: Lee, Gwang Wook, Shim, Sunnu, Cho, Wookhyun, Kim, Wonse, Lee, Kisoo, Kim, Jaehyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Koo, Bonyoung

المصدر: In Microelectronics Reliability November 2020 114

المؤلفون: Lee, Gwang Wook, Ok, Euna, Heo, Suhaeng, Jeong, Daeeun, Lee, Joonmyoung, Shim, Sunnu, Kim, Wonse, Han, Yongwoon, Choi, Hunseong, Kim, Jae Hyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Kim, Jinsung

المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Lim, Namsoo, Pak, Yusin, Kim, Jae‐Keun, Yoo, Tae Jin, Kim, Hyeonghun, Kumaresan, Yogeenth, Kim, Woochul, Cho, Seongjun, Kwon, Sooncheol, Hun Lee, Byoung, Lee, Takhee, Jung, Gun‐Young

المصدر: ChemNanoMat; Oct2019, Vol. 5 Issue 10, p1272-1279, 8p

مصطلحات موضوعية: PHOTODETECTORS, OPTOELECTRONIC devices, MOLYBDENUM sulfides, TRANSITION metals, SILICA, ELECTRIC fields, MOLYBDENUM disulfide