المؤلفون: Kim, Beomjun, Kim, Juhyun, Cho, Wookhyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Kim, Jinsung

المصدر: 2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2018 IEEE International Symposium on the. :1-4 Jul, 2018

Relation: 2018 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

المؤلفون: Lee, Gwang Wook, Shim, Sunnu, Cho, Wookhyun, Kim, Wonse, Lee, Kisoo, Kim, Jaehyun, Cho, Seongjun, Won, Seokjun, Koo, Bonyoung

المصدر: In Microelectronics Reliability November 2020 114

المؤلفون: Nam, Taewoo, Cho, Jongman, Choi, Junghyeon, Park, Junho, Cho, Wookhyun

المصدر: 2007 29th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society Engineering in Medicine and Biology Society, 2007. EMBS 2007. 29th Annual International Conference of the IEEE. :975-977 Aug, 2007

Relation: 2007 29th Annual International Conference of the IEEE Engineering in Medicine and Biology Society

المؤلفون: Nam, Taewoo^{Aff2, Aff3}, Cho, Jongman^Aff3, Kim, Soohong^Aff3, Lim, Jaehong^Aff3, Cho, Wookhyun^Aff4

المساهمون: Magjarevic, R., Series Editor, Nagel, J. H., Series Editor, Ibrahim, Fatimah, editor^Aff1, Osman, Noor Azuan Abu, editor^Aff1, Usman, Juliana, editor^Aff1, Kadri, Nahrizul Adib, editor^Aff1

المصدر: 3rd Kuala Lumpur International Conference on Biomedical Engineering 2006 : Biomed 2006, 11 – 14 December 2006 Kuala Lumpur, Malaysia. 15:342-344

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.