المؤلفون: Kwak, Y. H., Park, J., Chung, B. Y., Ghosh, S.

المصدر: IEEE Transactions on Engineering Management IEEE Trans. Eng. Manage. Engineering Management, IEEE Transactions on. 59(2):266-277 May, 2012

المؤلفون: Chung, B. Y., Syachrani, S., Jeong, H. S., Kwak, Y. H.

المصدر: IEEE Transactions on Engineering Management IEEE Trans. Eng. Manage. Engineering Management, IEEE Transactions on. 56(3):549-559 Aug, 2009

المؤلفون: Chung, B.-Y., Chien, C., Samueli, H., Jain, R.

المصدر: IEEE Journal on Selected Areas in Communications IEEE J. Select. Areas Commun. Selected Areas in Communications, IEEE Journal on. 11(7):1096-1107 Sep, 1993

المؤلفون: Jain, R., Samueli, H., Yang, P.T., Chien, C., Chen, G.G., Lau, L.K., Chung, B.-Y., Cohen, E.G.

المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 27(1):44-58 Jan, 1992

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Kim, J. C., Choi, M. G., Park, J. S., Lee, S. Y., Park, C. W., Chung, B. Y., Misery, L., Kim, H. O.

المصدر: Journal of the European Academy of Dermatology & Venereology; Jan2024, Vol. 38 Issue 1, pe125-e127, 3p

مصطلحات موضوعية: PAIN threshold, DEMODEX, CONTROL groups, MENTAL illness, CONFLICT of interests

المؤلفون: Jain, R., Yang, P.T., Chung, B.-Y., Chien, C., Tan, L.K., Yoshino, T.

المصدر: IEEE Proceedings of the Custom Integrated Circuits Conference Custom Integrated Circuits Conference, 1990., Proceedings of the IEEE 1990. :14.6/1-14.6/4 1990

Relation: IEEE Proceedings of the Custom Integrated Circuits Conference

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Chung, B. Y., Cho, J. Y., Song, C. H., Park, B. J.

المصدر: Bulletin of Environmental Contamination and Toxicology. July 2008 81(1):7-11

المؤلفون: Wi, S. G., Chung, B. Y., Kim, J.-H., Lee, K.-S., Kim, J.-S.

المصدر: Biologia Plantarum. September 2006 50(3):469-472