يعرض 1 - 10 نتائج من 10 نتيجة بحث عن '"Coppetta, M."', وقت الاستعلام: 1.13s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر

    المصدر: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS) European Test Symposium (ETS), 2023 IEEE. :1-6 May, 2023

    Relation: 2023 IEEE European Test Symposium (ETS)

  2. 2
    مؤتمر

    المصدر: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2022 IEEE European. :1-6 May, 2022

    Relation: 2022 IEEE European Test Symposium (ETS)

  3. 3
    مؤتمر

    المصدر: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT) Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT), 2021 IEEE International Symposium on. :1-6 Oct, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT)

  4. 4
    مؤتمر

    المصدر: 2019 IEEE European Test Symposium (ETS) Test Symposium (ETS), 2019 IEEE European. :1-6 May, 2019

    Relation: 2019 IEEE European Test Symposium (ETS)

  5. 5
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  7. 7
  8. 8
    مؤتمر

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    مؤتمر

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  10. 10