المؤلفون: Losego, M. D., Craft, H. S., Mita, S., Rice, T., Collazo, R., Sitar, Z., Maria, J-P.

المصدر: 2008 17th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics Applications of Ferroelectrics, 2008. ISAF 2008. 17th IEEE International Symposium on the. 3:1-2 Feb, 2008

Relation: 2008 17th IEEE International Symposium on the Applications of Ferroelectrics (ISAF)

المؤلفون: Wunderer, T., Chua, C. L., Northrup, J. E., Yang, Z., Johnson, N. M., Kneissl, M., Garrett, G. A., Shen, H., Wraback, M., Moody, B., Craft, H. S., Schlesser, R., Dalmau, R. F., Sitar, Z.

المصدر: 2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS) Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS), 2011 International. :1-2 Dec, 2011

Relation: 2011 International Semiconductor Device Research Symposium (ISDRS)

المؤلفون: Paisley, E. A., Losego, M. D., Aygun, S. M., Craft, H. S., Maria, J.-P.

المصدر: Journal of Applied Physics; Dec2008, Vol. 104 Issue 11, p114110, 6p, 2 Diagrams, 4 Graphs

مصطلحات موضوعية: THIN films, CAPACITORS, MICROSTRUCTURE, CALCIUM, COPPER, TITANATES, PERMITTIVITY, CRYSTAL grain boundaries

المؤلفون: Craft, H. S., Collazo, R., Losego, M. D., Mita, S., Sitar, Z., Maria, J.-P.

المصدر: Journal of Applied Physics; Oct2007, Vol. 102 Issue 7, p074104, 4p, 1 Diagram, 1 Chart, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: MOLECULAR beam epitaxy, EPITAXY, PHOTOELECTRON spectroscopy, CRYSTAL growth, GALLIUM nitride

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Wunderer, T., Chua, C. L., Northrup, J. E., Yang, Z., Johnson, N. M., Kneissl, M., Garrett, G. A., Shen, H., Wraback, M., Moody, B., Craft, H. S., Schlesser, R., Dalmau, R. F., Sitar, Z.

المصدر: Physica Status Solidi (C); Mar2012, Vol. 9 Issue 3/4, p822-825, 4p

المؤلفون: Craft, H. S., Collazo, R., Sitar, Z., Maria, J. P.

المصدر: Journal of Vacuum Science & Technology: Part B-Microelectronics & Nanometer Structures; Jul/Aug2006, Vol. 24 Issue 4, p2105-2110, 6p, 4 Black and White Photographs, 7 Graphs

مصطلحات موضوعية: OXIDES, ELECTRONS, X-ray diffraction, PHOTOEMISSION, TEMPERATURE