-
1
المؤلفون: Zhang, Baokun, Dai, Ying, Qian, Zhao, Ahuja, Rajeev, 1965, Wei, Wei
المصدر: Nano Energy. 123
مصطلحات موضوعية: Spontaneous NORR, Superstructures, Cu 2 Si/Cu(111), Cu 2 Si/Si(111), High selectivity
وصف الملف: print
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Ferretti, Cristián Alejandro, Gutierrez, Leandro Gabriel, Guntero, Vanina Alejandra, Noriega, Pablo Javier, Kneeteman, María Nelida
المصدر: Comptes Rendus. Chimie, Vol 24, Iss 3, Pp 385-396 (2021)
مصطلحات موضوعية: Colorimetric sensor, $\mathrm{Cu}^{2+}$ detection, Ion recognition, DFT, UV–Vis method, Biochemistry, QD415-436, Physical and theoretical chemistry, QD450-801, Mathematics, QA1-939
وصف الملف: electronic resource
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Pandey, N. K., Tiwari, K., Roy, A.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 11(9):2142-2148 Sep, 2011
-
5دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(7):2003-2007 Jul, 2011
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Liangbin Jia, Yao Tang, Ming Li, Meiyan Zhu, Xiaotong Dong, Minggang Zhao, Ye Ma
المصدر: Advanced Materials Interfaces, Vol 8, Iss 24, Pp n/a-n/a (2021)
مصطلحات موضوعية: Cu 2+, heavy metal sensing, heterostructures, interfacial energy barriers, Schottky junctions, Physics, QC1-999, Technology
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2196-7350
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Kim, Y. H., Sung, T. H., Han, S. C., Han, Y. H., Jeong, N. H., No, K.
المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 17(2):3616-3619 Jun, 2007
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Park, I.-J., Jeong, C.-Y., U, M., Song, S.-H., Cho, I.-T., Lee, J.-H., Cho, E.-S., Kwon, H.-I.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 34(5):647-649 May, 2013
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Saito, Y., Song, Y. H., Lee, J. M., Sutou, Y., Koike, J.
المصدر: IEEE Electron Device Letters IEEE Electron Device Lett. Electron Device Letters, IEEE. 33(10):1399-1401 Oct, 2012
-
10دورية أكاديمية
المساهمون: Elam, Jeffrey [Argonne National Lab. (ANL), Argonne, IL (United States)]
المصدر: Journal of Power Sources; 280
وصف الملف: Medium: ED; Size: p. 621–629