المؤلفون: Ding, Jiao, Li, Fajun^{Aff2, IDs10909024030585_cor2}, Wang, Yeru, Cui, Wei^{Aff1, IDs10909024030585_cor4}, Gao, Yuan, Yang, Xiangjun, Jin, Hai, Huang, Huaqing, Xue, Jianming

المصدر: Journal of Low Temperature Physics. 215(1-2):33-45

المؤلفون: Zhao, Wen, Wang, Yong, Li, Ming, Gao, Liming

المصدر: 2014 15th International Conference on Electronic Packaging Technology Electronic Packaging Technology (ICEPT), 2014 15th International Conference on. :1021-1025 May, 2014

Relation: 2014 15th International Conference on Electronic Packaging Technology (ICEPT)

المؤلفون: Li, Jun, Yi, Xiao-Yang, Zheng, Yu, Wang, Jing, Wang, Hai-Zhen, Meng, Xiang-Long^Aff2, Gao, Zhi-Yong, Ma, Yue-Hui

المصدر: Rare Metals. 40(8):2127-2133

المؤلفون: M. A. Rahman, Dongkyu Kim, Deepshikha Arora, Joo-Youl Huh, Ji Young Byun

المصدر: Micromachines, Vol 14, Iss 2, p 471 (2023)

مصطلحات موضوعية: reflection colors, metal-insulator-metal structure, Cu thin film, capping layer, Mechanical engineering and machinery, TJ1-1570

وصف الملف: electronic resource

Relation: https://www.mdpi.com/2072-666X/14/2/471; https://doaj.org/toc/2072-666X

URL الوصول: https://doaj.org/article/b00234c37dd64b6d951bce885af652ed

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Wang, Yu-Ting^Aff6, Shieh, Yun-Fu^Aff6, Chen, Chien-hua^Aff6, Lu, Cheng-hua^Aff6, Cheng, Ya-Chi^{Aff6, Aff7}, Wu, Chung-Lin^Aff7, Lin, Ming-Tzer^Aff6

المساهمون: Proulx, Tom, Series editor^Aff1, Prorok, Barton C., editor^Aff2, Starman, LaVern, editor^Aff3, Hay, Jennifer, editor^Aff4, Shaw, III, Gordon, editor^Aff5

المصدر: MEMS and Nanotechnology, Volume 8 : Proceedings of the 2014 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics. :67-73

المؤلفون: Wang, C. P., Dai, T., Lu, Y., Shi, Z., Ruan, J. J., Guo, Y. H., Liu, X. J.

المصدر: Journal of Electronic Materials. August 2017 46(8):4891-4897

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.