-
1
المؤلفون: F. Guyader, P. Batude, P. Malinge, E. Vire, J. Lacord, J. Jourdon, J. Poulet, L. Gay, F. Ponthenier, S. Joblot, A. Farcy, L. Brunet, A. Albouy, C. Theodorou, M. Ribotta, D. Bosch, E. Ollier, D. Muller, M. Neyens, D. Jeanjean, T. Ferrotti, E. Mortini, J.G. Mattei, A. Inard, R. Fillon, F. Lalanne, F. Roy, E. Josse
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::b8c8470b7f599580ca94cfd1cec41f23
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019432 -
2
المؤلفون: Arnaud Tournier, L. Pinzelli, Francois Roy, D. Jeanjean, S. Hulot, F. Blanchet, Laurent Favennec, Didier Herault, C. Perrot, Francois Leverd, J.-P. Carrere, Helene Wehbe-Alause, S. Ricq, N. Cherault, P. Boulenc, C. Augier, Maxime Gatefait
المصدر: physica status solidi c. 11:50-56
مصطلحات موضوعية: Materials science, CMOS, business.industry, Optoelectronics, Image sensor, Condensed Matter Physics, business
-
3
المؤلفون: R. Gassilloud, Remi Beneyton, David Roy, Xavier Federspiel, X. Garros, D. JeanJean, F. Martin, Serge Blonkowski, M. Kogelschatz, P. Delcroix, Olivier Gourhant, H. Grampeix, Mustapha Rafik
المساهمون: Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), STMicroelectronics [Crolles] (ST-CROLLES), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Clot, Marielle
المصدر: Microelectronic Engineering
Microelectronic Engineering, Elsevier, 2011, pp.88 1376-1379
Microelectronic Engineering, 2011, pp.88 1376-1379مصطلحات موضوعية: 010302 applied physics, Nanostructure, Dielectric strength, business.industry, Chemistry, Ultra-high vacuum, Analytical chemistry, Time-dependent gate oxide breakdown, 02 engineering and technology, 021001 nanoscience & nanotechnology, Condensed Matter Physics, 01 natural sciences, Atomic and Molecular Physics, and Optics, Surfaces, Coatings and Films, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Gate oxide, 0103 physical sciences, Electrode, Optoelectronics, Electrical and Electronic Engineering, 0210 nano-technology, business, Nanoscopic scale, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, High-κ dielectric
-
4
المؤلفون: F. Berthollet, F. Lalanne, L. Pinzelli, A. Poncet, J.-P. Carrere, G. Bossu, Sebastien Cremer, C. Plossu, D. Jeanjean, Roland Pantel
المصدر: 2009 Proceedings of the European Solid State Device Research Conference.
مصطلحات موضوعية: Materials science, business.industry, Transistor, Electrical engineering, Multiple-emitter transistor, Hardware_PERFORMANCEANDRELIABILITY, eDRAM, law.invention, Memory cell, law, Hardware_INTEGRATEDCIRCUITS, Field-effect transistor, business, Dram, Hardware_LOGICDESIGN, Floating body effect, Static induction transistor
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::ec58b3175b322bc63974f795b6baf736
https://doi.org/10.1109/essderc.2009.5331317 -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.