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1
المؤلفون: Alberto Bosio, Stefano Di Carlo, Patrick Girard, Annachiara Ruospo, Ernesto Sanchez, Alessandro Savino, Lukas Sekanina, Marcello Traiola, Zdenek Vasicek, Arnaud Virazel
المساهمون: INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Test and dEpendability of microelectronic integrated SysTems (TEST), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Brno University of Technology [Brno] (BUT), Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)
المصدر: Approximate Computing Techniques
Approximate Computing Techniques, Springer International Publishing, pp.349-385, 2022, ⟨10.1007/978-3-030-94705-7_12⟩
Approximate Computing Techniques ISBN: 9783030947040مصطلحات موضوعية: [INFO.INFO-AR]Computer Science [cs]/Hardware Architecture [cs.AR], Approximation Circuits, Approximating Safety-Critical Applications, Approximate Circuits, Approximate Computing for IoT, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Approximate Computing for HPC Applications, [INFO.INFO-ES]Computer Science [cs]/Embedded Systems
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::78472c1698ca7517f3bf350fe755cc1f
https://inria.hal.science/hal-03888027 -
2
المصدر: IOLTS
مصطلحات موضوعية: Cover (telecommunications), Computer science, business.industry, CAN-bus, Distributed computing, Supply chain, Interface (computing), Automotive industry, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Automotive, Provisioning, ECC, No secret key Infrastructure, Rolling secret key, Secure CAN Network, Secure Embedded System, CAN bus, Key (cryptography), Architecture, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::c0e9cb711520cca33dd568126dcf3747
https://doi.org/10.1109/iolts52814.2021.9486688 -
3
المصدر: DSN (Supplements)
مصطلحات موضوعية: Authentication, Hardware modules, Computer science, business.industry, Embedded systems, Controller (computing), Control (management), Automotive industry, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Limiting, Signature (logic), Hardware Signature, Embedded system, Automotive security, Automotive Security, business
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::0d935e64a03346e0dd8465ed4bcaba9a
https://doi.org/10.1109/dsn-s52858.2021.00017 -
4
المؤلفون: Gennaro S. Rodrigues, Oliver Sinnen, Maurizio Rebaudengo, Emmanuel Casseau, Stefano Di Carlo, Petr Dobias, Alberto Bosio, Fernanda Lima Kastensmidt, Alessandro Savino
المساهمون: Architectures matérielles spécialisées pour l’ère post loi-de-Moore (TARAN), Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-ARCHITECTURE (IRISA-D3), Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Bretagne Sud (UBS)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-CentraleSupélec-IMT Atlantique Bretagne-Pays de la Loire (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Rennes 1 (UR1), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Energy Efficient Computing ArchItectures with Embedded Reconfigurable Resources (CAIRN), ARCHITECTURE (IRISA-D3), Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Rennes 1 (UR1), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Inria Rennes – Bretagne Atlantique, Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria), University of Auckland [Auckland], Departamento de Engenharia Eletrica (UFRGS), Universidade Federal do Rio Grande do Sul [Porto Alegre] (UFRGS), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon, Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique Bretagne-Pays de la Loire (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Université de Rennes 1 (UR1), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique Bretagne-Pays de la Loire (IMT Atlantique), CentraleSupélec-Télécom Bretagne-Université de Rennes 1 (UR1), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-CentraleSupélec-Télécom Bretagne-Université de Rennes 1 (UR1), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Université de Bretagne Sud (UBS)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Rennes (UNIV-RENNES)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA), Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-IMT Atlantique (IMT Atlantique), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Rennes (UR)-Institut National des Sciences Appliquées - Rennes (INSA Rennes), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Institut National de Recherche en Informatique et en Automatique (Inria)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut de Recherche en Informatique et Systèmes Aléatoires (IRISA), Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Université de Bretagne Sud (UBS)-École normale supérieure - Rennes (ENS Rennes)-Télécom Bretagne-CentraleSupélec-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), INL - Conception de Systèmes Hétérogènes (INL - CSH), Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École Supérieure de Chimie Physique Électronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)
المصدر: VTS
VTS 2021-39th IEEE VLSI Test Symposium
VTS 2021-39th IEEE VLSI Test Symposium, Apr 2021, San Diego, United States. pp.1-10, ⟨10.1109/VTS50974.2021.9441042⟩مصطلحات موضوعية: Very-large-scale integration, Computer science, Operating Systems, Reliability (computer networking), Fault Injection, Fault Tolerance, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Fault tolerance, 02 engineering and technology, Reliability, computer.software_genre, Application layer, Task Scheduling, 020202 computer hardware & architecture, Scheduling (computing), Stack (abstract data type), RTOS, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, Operating system, 020201 artificial intelligence & image processing, Session (computer science), [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Layer (object-oriented design), computer
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::69d83bd16f07a9bd54aa0a7253359966
https://doi.org/10.1109/vts50974.2021.9441042 -
5
المؤلفون: Marcello Traiola, Alessandro Savino, Stefano Di Carlo, Alberto Bosio
المساهمون: Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon
المصدر: 2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS)
2021 24th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS), Apr 2021, Vienna, Austria. pp.45-50, ⟨10.1109/DDECS52668.2021.9417057⟩
DDECSمصطلحات موضوعية: Neural Networks, Computer science, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Accuracy prediction, Approximate computing, Bayesian Networks, Functional approximation, 02 engineering and technology, Bayesian inference, computer.software_genre, Software, 020204 information systems, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS, Abstraction (linguistics), Artificial neural network, business.industry, Probabilistic logic, Bayesian network, 020202 computer hardware & architecture, Data mining, Performance improvement, business, computer, Energy (signal processing)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::884d1a9f997c54b0a5c8a7c1e13c8bbd
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-03266825 -
6
المؤلفون: Alberto Bosio, Josie E. Rodriguez Condia, Giorgio Di Natale, Stefano Di Carlo, Matteo Sonza Reorda
المساهمون: Institut des Nanotechnologies de Lyon (INL), École Centrale de Lyon (ECL), Université de Lyon-Université de Lyon-Université Claude Bernard Lyon 1 (UCBL), Université de Lyon-École supérieure de Chimie Physique Electronique de Lyon (CPE)-Institut National des Sciences Appliquées de Lyon (INSA Lyon), Université de Lyon-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Institut National des Sciences Appliquées (INSA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Architectures and Methods for Resilient Systems (AMfoRS ), Techniques de l'Informatique et de la Microélectronique pour l'Architecture des systèmes intégrés (TIMA), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université Grenoble Alpes (UGA)-Institut polytechnique de Grenoble - Grenoble Institute of Technology (Grenoble INP ), Université Grenoble Alpes (UGA)
المصدر: Cross-Layer Reliability of Computing Systems
Cross-Layer Reliability of Computing Systems, iet-the institution of engineering and technology, pp.95-112, 2020, 978-1785617973
Cross-Layer Reliability of Computing Systems ISBN: 9781785617973مصطلحات موضوعية: fault tolerant computing, hardware fault techniques, ComputingMilieux_THECOMPUTINGPROFESSION, business.industry, Computer science, Distributed computing, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, fault diagnosis, Computing systems, software layer techniques, computing system, reliability requirements, long evaluation processes, Software, PACS 8542, Layer (object-oriented design), [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Resilience (network), business, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::04f660eaca750a0bcd1bcfe5229e8c75
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7
المؤلفون: Simone Dutto, Alessandro Savino, Stefano Di Carlo
المصدر: DATE
مصطلحات موضوعية: business.industry, Computer science, Deep learning, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, deep learning, hardware metrics, Fault injection, fault detection, Fault detection and isolation, Field (computer science), monitoring tool, Software, Server, Embedded system, Artificial intelligence, business, Monitoring tool
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b7f615d1f1fb1e5d0b2461ad9d7445d1
https://doi.org/10.23919/date51398.2021.9474120 -
8
المؤلفون: Manolis Kaliorakis, Riccardo Mariani, G. Di Natale, Antonio González, Alessandro Savino, Alberto Bosio, Ramon Canal, S. Di Carlo, Marti Anglada, Maha Kooli, Dimitris Gizopoulos, Athanasios Chatzidimitriou, Alessandro Vallero, Marc Riera
المساهمون: Universitat Politècnica de Catalunya. Departament d'Arquitectura de Computadors, Universitat Politècnica de Catalunya. ARCO - Microarquitectura i Compiladors, Universitat Politècnica de Catalunya. VIRTUOS - Virtualisation and Operating Systems, Politecnico di Torino = Polytechnic of Turin (Polito), Department of Informatics and Telecomunications [Kapodistrian Univ] (DI NKUA), National and Kapodistrian University of Athens (NKUA), TEST (TEST), Laboratoire d'Informatique de Robotique et de Microélectronique de Montpellier (LIRMM), Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Université de Montpellier (UM), Universitat Politècnica de Catalunya [Barcelona] (UPC)
المصدر: UPCommons. Portal del coneixement obert de la UPC
Universitat Politècnica de Catalunya (UPC)
IEEE Transactions on Computers
IEEE Transactions on Computers, Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2019, 68 (5), pp.765-783. ⟨10.1109/TC.2018.2887225⟩
Recercat. Dipósit de la Recerca de Catalunya
instnameمصطلحات موضوعية: Computer science, Soft errors, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Bayes methods, Software reliability, Hardware, Microprocessors, Resilience, Reliability, Cross-layer, soft errors, failures-in-time, 02 engineering and technology, Theoretical Computer Science, law.invention, Set (abstract data type), Software, Informàtica [Àrees temàtiques de la UPC], law, 0202 electrical engineering, electronic engineering, information engineering, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, Reliability (statistics), business.industry, Complexity theory, Failures-in-Time, Software quality, 020202 computer hardware & architecture, Microprocessor, Computational Theory and Mathematics, Computer engineering, Hardware and Architecture, Microprocessadors, Benchmark (computing), x86, business
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::47b1991f0b3dc72ea906b4e99f0e4405
https://doi.org/10.1109/tc.2018.2887225
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9
المؤلفون: Alessandro Vallero, Alberto Carelli, Stefano Di Carlo
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability. 19:73-83
مصطلحات موضوعية: safety, Risk, Hardware security module, Computer science, Automotive industry, cyber-physical systems, Computer security, computer.software_genre, 01 natural sciences, Hardware security, 0103 physical sciences, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Electrical and Electronic Engineering, Safety, Risk, Reliability and Quality, Aerospace, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, performance monitoring counters, Electronic, Optical and Magnetic Materials, Backdoor, 010302 applied physics, business.industry, Mechanism (biology), Cyber-physical system, Reliability and Quality, Task analysis, business, computer
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::bae3c410d05df204f6414116690cc6d8
https://doi.org/10.1109/tdmr.2019.2898882
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10
المؤلفون: Alessandro Savino, Stefano Di Carlo, Peilin Song
مصطلحات موضوعية: Focus (computing), Computer science, Emerging technologies, Testing, DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VERIFICATION, Reliability, Computer Science Applications, Human-Computer Interaction, Reliability (semiconductor), Neuromorphic engineering, Testing reliability, Computer Science (miscellaneous), Systems engineering, Security, Mobile device, Testability, Information Systems, Abstraction (linguistics)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::b6ea515698dcd065df7bb1fd372a7c00
http://hdl.handle.net/11583/2914808
