المؤلفون: Machida, M., Daltrini, A.M., Severo, J.H.F., Nascimento, I.C., Sanada, E.K., Elizondo, J.I., Kuznetsov, Y.K.

المصدر: Brazilian Journal of Physics. June 2009 39(2)

مصطلحات موضوعية: VUV spectrometry, higher diffraction order spectra, tokamak, ion temperature, multi-channel detector

وصف الملف: text/html

URL الوصول: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0103-97332009000300004

المؤلفون: Daltrini, A.M., Machida, M., Monteiro, M.J.R., Kaminishikawahara, C. O.

المصدر: Brazilian Journal of Physics. March 2002 32(1)

وصف الملف: text/html

URL الوصول: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0103-97332002000100005

المؤلفون: Monteiro, M.J.R., Machida, M., Daltrini, A.M., Berni, L.A.

المصدر: Brazilian Journal of Physics. September 2001 31(3)

وصف الملف: text/html

URL الوصول: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0103-97332001000300025

المؤلفون: Daltrini, A.M., Machida, M., Monteiro, M.J.R.

المصدر: Brazilian Journal of Physics. September 2001 31(3)

وصف الملف: text/html

URL الوصول: http://old.scielo.br/scielo.php?script=sci_arttext&pid=S0103-97332001000300024

المؤلفون: Burger, T.S., Van Etten, E.A.M.A., Da Silva, R.C.G., Malheiros-Silveira, G.N., Finardi, C.A., Mattos, L.L., Tezani, L., Pais, R.W.D., Daltrini, A.M., Panepucci, R.R.

المصدر: 2018 33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro) Microelectronics Technology and Devices (SBMicro), 2018 33rd Symposium on. :1-4 Aug, 2018

Relation: 2018 33rd Symposium on Microelectronics Technology and Devices (SBMicro)

المؤلفون: Daltrini, A.M., Machida, M.

المصدر: IEEE Transactions on Plasma Science IEEE Trans. Plasma Sci. Plasma Science, IEEE Transactions on. 33(6):1961-1967 Dec, 2005

المؤلفون: Biasotto, C., Diniz, J.A., Daltrini, A.M., Moshkalev, S.A., Monteiro, M.J.R.

المصدر: In Thin Solid Films 2008 516(21):7777-7782

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.