المؤلفون: Mutlu, Z., Lin, Y., Barin, G. B., Zhang, Z., Pitner, G., Wang, S., Darawish, R., Giovannantonio, M. Di, Wang, H., Cai, J., Passlack, M., Diaz, C. H., Narita, A., Mullen, K., Fischer, F. R., Bandaru, P., Kummel, A. C., Ruffieux, P., Fasel, R., Bokor, J.

المصدر: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :37.4.1-37.4.4 Dec, 2021

Relation: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.