-
1مؤتمرEffects of 3D Profiles of Adjacent Trench Areas on Rule-Based Etch Bias Retargeting Accuracy for OPC
المؤلفون: Abdulrahman, T., Ahmed, N., Das, P., Daveau, S.
المصدر: 2019 IEEE 9th International Nanoelectronics Conferences (INEC) Nanoelectronics Conferences (INEC), 2019 IEEE 9th International. :1-4 Jul, 2019
Relation: 2019 IEEE 9th International Nanoelectronics Conferences (INEC)
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Weber, Th., Czasch, A., Jagutzki, O., Mueller, A., Mergel, V., Kheifets, A., Feagin, J., Rotenberg, E., Meigs, G., Prior, M.H., Daveau, S., Landers, A.L., Cocke, C.L., Osipov, T., Schmidt-Boecking, H., Doerner, R.
المصدر: Physical Review Letters. 92
وصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://escholarship.org/uc/item/1t62121h
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Bernard, P., Valette, S., Daveau, S., Abry, J.C., Tabary, P., Kapsa, Ph.
المصدر: In Tribology International 2008 41(5):416-424
-
4مؤتمر
المؤلفون: Briand, J.P., Daveau, S., Benhachoum, M., Niedermayr, T., Friedrich, S., Xie, Z., Machicoane, G., Hitz, D., Girard, A., Melin, G.
المصدر: AIP Conference Proceedings; 2003, Vol. 680 Issue 1, p3, 4p
مصطلحات موضوعية: IONS, METALLIC surfaces, INSULATING materials, ELECTRON capture, SURFACES (Physics)
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية
المؤلفون: Daveau, S., Brandon, N. P., Bonanos, N.
المصدر: Materials Research Bulletin; 1997, Vol. 32 Issue: 2 p205-212, 8p
-
10
المؤلفون: Coudé, A., Coudé-Gaussen, G., Daveau, S.
المصدر: RUC. Repositorio da Universidade da Coruña
instnameURL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::857f070f450cfb316b6abc50c09a03b5
http://hdl.handle.net/2183/5846
Full Text Finder 
Find this article in full text from Scitation.