يعرض 1 - 10 نتائج من 455 نتيجة بحث عن '"Defect generation"', وقت الاستعلام: 1.08s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Evaluation of Burn-in Technique on Gate Oxide Reliability in Commercial SiC MOSFETs

    المؤلفون: Shi, Limeng, Qian, Jiashu, Jin, Michael, Bhattacharya, Monikuntala, Yu, Hengyu, White, Marvin H., Agarwal, Anant K., Shimbori, Atsushi

    المصدر: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) International Reliability Physics Symposium (IRPS), 2024 IEEE. :1-6 Apr, 2024

    Relation: 2024 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Anomaly Detection Using Normalizing Flow-Based Density Estimation and Synthetic Defect Classification

    المؤلفون: Oh, S., Kim, J.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 12:75873-75887 2024

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Adversarial Defect Synthesis for Industrial Products in Low Data Regime

    المؤلفون: Coscia, Pasquale, Genovese, Angelo, Scotti, Fabio, Piuri, Vincenzo

    المصدر: 2023 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP) Image Processing (ICIP), 2023 IEEE International Conference on. :1360-1364 Oct, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Conference on Image Processing (ICIP)

    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Signal duration sensitive degradation in scaled devices

    المؤلفون: Bersuker, G., Tang, E., Veksler, D.

    المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-5 Mar, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Self-Heating and Corner Rounding Effects on Time Dependent Dielectric Breakdown of Stacked Multi-Nanosheet FETs

    المؤلفون: Lim, J.W., Yoo, C., Park, K., Jeon, J.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 11:82208-82215 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Enhancing Metal Surface Defect Recognition Through Image Patching and Synthetic Defect Generation

    المؤلفون: Mustafaev, B., Kim, S., Kim, E.

    المصدر: IEEE Access Access, IEEE. 11:113339-113359 2023

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Mask2Defect: A Prior Knowledge-Based Data Augmentation Method for Metal Surface Defect Inspection

    المؤلفون: Yang, B., Liu, Z., Duan, G., Tan, J.

    المصدر: IEEE Transactions on Industrial Informatics IEEE Trans. Ind. Inf. Industrial Informatics, IEEE Transactions on. 18(10):6743-6755 Oct, 2022

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Generation probability of point defects considering microscopic elastic scattering cross-sections in rare-earth permanent magnets via first-principles calculations

    المؤلفون: Akagi, Fumiko, Suzuki, Ryoma, Yayama, Tomoe

    المصدر: 2023 IEEE International Magnetic Conference - Short Papers (INTERMAG Short Papers) Magnetic Conference - Short Papers (INTERMAG Short Papers), 2023 IEEE International. :1-2 May, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Magnetic Conference - Short Papers (INTERMAG Short Papers)

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Anomaly Composition and Decomposition Network for Accurate Visual Inspection of Texture Defects

    المؤلفون: Song, K., Yang, H., Yin, Z.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 71:1-14 2022

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية
    Anomaly Detection Using Normalizing Flow-Based Density Estimation and Synthetic Defect Classification

    المؤلفون: Seungmi Oh, Jeongtae Kim

    المصدر: IEEE Access, Vol 12, Pp 75873-75887 (2024)

    مصطلحات موضوعية: Industrial inspection, machine vision, deep learning, anomaly detection, synthetic defect generation, density estimation, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971

    وصف الملف: electronic resource

    Relation: https://ieeexplore.ieee.org/document/10540095/; https://doaj.org/toc/2169-3536

    URL الوصول: https://doaj.org/article/a4c07bed10d94236a60161e2f081edaf

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء