-
1مؤتمرInvestigation of Channel Dimension Dependence of BTI Degradation and Variation in Planar HKMG MOSFET
المؤلفون: Zhang, S. Q., Sun, Y. S., Gao, D., Jiang, H., Yu, Z.Q., Zheng, H., Huang, J. L.
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-4 Mar, 2023
Relation: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Pouladi, Sara, Sharma, Sahil, Moradnia, Mina, Le, Kyle, Yarali, Miad, Favela, Carlos, Stefanov, Ognyan, Selvamanickam, Venkat, Ryou, Jae-Hyun
المصدر: 2021 IEEE 48th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2021 IEEE 48th. :1789-1791 Jun, 2021
Relation: 2021 IEEE 48th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)
-
3مؤتمر
المصدر: 2018 19th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM) Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM), 2018 19th International Conference of Young Specialists on. :3-7 Jun, 2018
Relation: 2018 19th International Conference of Young Specialists on Micro/Nanotechnologies and Electron Devices (EDM)
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Kumar, ManojAff1, Aff2, Kumar, SushilAff1, Aff2, IDs1108202304716w_cor2
المصدر: Optical and Quantum Electronics. 55(5)
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Li, Qing, Wang, Ying, Wang, JunAff1, IDs4014502205791_cor3, Ma, JieAff1, IDs4014502205791_cor4, Ni, Meng, Lin, Hui, Zhang, Jian, Liu, Peng, Xu, Xiaodong, Tang, Dingyuan
المصدر: Journal of Advanced Ceramics. 11(6):874-881
-
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.