يعرض 1 - 10 نتائج من 128 نتيجة بحث عن '"Demant, M."', وقت الاستعلام: 1.17s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية
    Comparison of Inline Crack Detection Systems for Multicrystalline Silicon Solar Cells

    المؤلفون: Greulich, J.M., Demant, M., Kunze, P., Dost, G., Ramspeck, K., Vetter, A., Probst, C.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 10(5):1389-1395 Sep, 2020

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    دورية أكاديمية
    Learning Quality Rating of As-Cut mc-Si Wafers via Convolutional Regression Networks

    المؤلفون: Demant, M., Virtue, P., Kovvali, A., Yu, S.X., Rein, S.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 9(4):1064-1072 Jul, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Visualizing Material Quality and Similarity of mc-Si Wafers Learned by Convolutional Regression Networks

    المؤلفون: Demant, M., Virtue, P., Kovvali, A., Yu, S.X., Rein, S.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 9(4):1073-1080 Jul, 2019

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Impact of Material and Process Variations on the Distribution of Multicrystalline Silicon PERC Cell Efficiencies

    المؤلفون: Wasmer, S., Greulich, J., Hoffler, H., Wohrle, N., Demant, M., Fertig, F., Rein, S.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 7(1):118-128 Jan, 2017

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Microcracks in Silicon Wafers II: Implications on Solar Cell Characteristics, Statistics and Physical Origin

    المؤلفون: Demant, M., Welschehold, T., Kluska, S., Rein, S.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 6(1):136-144 Jan, 2016

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Microcracks in Silicon Wafers I: Inline Detection and Implications of Crack Morphology on Wafer Strength

    المؤلفون: Demant, M., Welschehold, T., Oswald, M., Bartsch, S., Brox, T., Schoenfelder, S., Rein, S.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 6(1):126-135 Jan, 2016

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Impact of Texture Roughness on the Front-Side Metallization of Stencil-Printed Silicon Solar Cells

    المؤلفون: Lorenz, A., Strauch, T., Demant, M., Fellmeth, T., Barnes Hofmeister, T., Linse, M., Dannenberg, T., Seiffe, J., Clement, F., Biro, D., Reinecke, H., Preu, R.

    المصدر: IEEE Journal of Photovoltaics IEEE J. Photovoltaics Photovoltaics, IEEE Journal of. 5(4):1237-1244 Jul, 2015

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    مؤتمر
    Appearance of rift structures created by acidic texturization and their impact on solar cell efficiency

    المؤلفون: Nievendick, J., Demant, M., Haunschild, J., Krieg, A., Souren, F.M.M., Rein, S., Zimmer, M., Rentsch, J.

    المصدر: 2010 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2010 35th IEEE. :000447-000452 Jun, 2010

    Relation: 2010 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية
    Modelling of Physically Relevant Features in Photoluminescence Images

    المؤلفون: Demant, M., Greulich, J., Glatthaar, M., Haunschild, J., Rein, S.

    المصدر: In Energy Procedia 2012 27:247-252

    View record from ScienceDirect Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    Denoising of Image Data for DWS Wafer Characterization Using Generative Adversarial Networks

    المؤلفون: Kurumundayil, L., Schremmer, H., Rein, S., Demant, M.

    مصطلحات موضوعية: Characterisation & Simulation of Si Cells, Silicon Materials and Cells

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::c5576592294cbe2774deb36b7a2f85a7

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء