-
1مؤتمر
المؤلفون: Yang, B.L., Cheung, N.W., Denholm, S., Jiqun Shao
المصدر: 1998 International Conference on Ion Implantation Technology. Proceedings (Cat. No.98EX144) Ion implantation technology Ion Implantation Technology Proceedings, 1998 International Conference on. 2:1163-1165 vol.2 1998
Relation: 1998 International Conference on Ion Implantation Technology. Proceedings. Ion Implantation Technology - 98
-
2
المؤلفون: Denholm, S, Luk, W
المصدر: International Symposium on Highly Efficient Accelerators and Reconfigurable Technologies 2023
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=od______1032::0ea872c2da0843e03b725fe574d38175
http://hdl.handle.net/10044/1/104571 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4مؤتمر
المؤلفون: Shu Qin, Yuanzhong Zhou, Chung Chan, Jiqun Shao, Denholm, S.
المصدر: IEEE Conference Record - Abstracts. 1997 IEEE International Conference on Plasma Science Plasma science Plasma Science, 1997. IEEE Conference Record - Abstracts., 1997 IEEE International Conference on. :151 1997
Relation: IEEE Conference Record - Abstracts. 1997 IEEE International Conference on Plasma Science
-
5
المؤلفون: Denholm, S, Luk, W
المصدر: 2022 32nd International Conference on Field-Programmable Logic and Applications (FPL)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7847a747a2b5f8583f43d2ceca37efa7
https://doi.org/10.1109/fpl57034.2022.00048 -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Khaw, K-T., Compston, J. E., Murphy, S., Lawlor, R., McGee, C., Hegarty, V., Scott, T., MacMahon, M., Healy, M., O’Moore, R. R., Keane, C. T., Mulvihill, E., Taggart, H., Crawford, V. L. S., Tracey, F., Crawford, V., O’Mahory, D., Coffey, J., Hamilton, D., Freyne, P., Keane, E. M., Wilson, H., Maher, A., McGrane, D., Walsh, J. B., Coakley, D., Coen, R. F., O’Mahony, D., O’Boyle, C. A., Browne, J., Joyce, C. R. B., O’Neill, D., Wilcock, G. K., Crossin, Jane, Mills, J. O. M, Collins, J. C., Gilmore, D. H., Beringer, T. R. O., Miller, M., Hyland, C. M., Twomey, C., Corcoran, E. M., Guerandel, A., Wrigley, M., Lee, H., Walsh, P. J., Hickey, G., Tyrrell, J., McCabe, C., Kelly, E., Swanwick, G., Ward, F., Lawlor, B. A., Moraes, D., McCormack, P. M. E., Feely, J., Jassal, S. V., Coulshed, S. C., Douglas, J. F., Stout, R. W., Kane, Nuala, Keane, N., Brennan, B., Denholm, S., Fox, J., Herlihey, E., O’Keeffe, S., Noel, J., Lavan, J., Mclntosh, S., Kenny, R. A., Lawson, J., da Costa, D., Ford, G., Mulkerin, E., Rice, K., Freeman, E. A., Keyes, C. B., Hickey, A., Clinch, D., Liston, R., Passmore, A. P., Passmore, C. M., Copeland, S., tout, R. W., Johnston, G. D.
المصدر: Irish Journal of Medical Science. July 1993 162(7):265-272
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Yang, B.L, Cheung, N.W, Denholm, S, Shao, J, Wong, H, Lai, P.T, Cheng, Y.C
المصدر: In Microelectronics Reliability 2002 42(12):1985-1989