-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Sobia Nisar, Ghulam Dastgeer, Zafar Muhammad Shazad, Muhammad Wajid Zulfiqar, Amir Rasheed, Muhammad Zahir Iqbal, Kashif Hussain, Iqra Rabani, Deok‐kee Kim, Ahmad Irfan, Aijaz Rasool Chaudhry
المصدر: Advanced Science, Vol 11, Iss 31, Pp n/a-n/a (2024)
مصطلحات موضوعية: 2D materials, analyte detection, biomedical diagnostics, field‐effect transistor, label‐free detection, point‐of‐care (PoC), Science
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2198-3844
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Sobia Nisar, Beriham Basha, Ghulam Dastgeer, Zafar M. Shahzad, Honggyun Kim, Iqra Rabani, Aamir Rasheed, M. S. Al‐Buriahi, Ahmad Irfan, Jonghwa Eom, Deok‐kee Kim
المصدر: Advanced Science, Vol 10, Iss 33, Pp n/a-n/a (2023)
مصطلحات موضوعية: 2D semiconductors, biosensors, field‐effect transistors, hexagonal boron nitride, tin disulfide, Science
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2198-3844
-
3دورية أكاديمية
المصدر: Journal of Materials Research and Technology, Vol 23, Iss , Pp 3617-3625 (2023)
مصطلحات موضوعية: Thermoelectric, Bi2−xRxTe3, Simplified sol-gel method (WOWS), Composite mediated hydrothermal method (CMHM), Seebeck coefficient, ZT = figure of merit, Mining engineering. Metallurgy, TN1-997
وصف الملف: electronic resource
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Shania Rehman, Muhammad Asghar Khan, Honggyun Kim, Harshada Patil, Jamal Aziz, Kalyani D. Kadam, Malik Abdul Rehman, Muhammad Rabeel, Aize Hao, Karim Khan, Sungho Kim, Jonghwa Eom, Deok‐kee Kim, Muhammad Farooq Khan
المصدر: Advanced Science, Vol 10, Iss 17, Pp n/a-n/a (2023)
مصطلحات موضوعية: charge trapping, gallium selenide, logic gates, memtransistors, resistive switching, Science
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2198-3844
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Ghulam Dastgeer, Sobia Nisar, Zafar Muhammad Shahzad, Aamir Rasheed, Deok‐kee Kim, Syed Hassan Abbas Jaffery, Liang Wang, Muhammad Usman, Jonghwa Eom
المصدر: Advanced Science, Vol 10, Iss 1, Pp n/a-n/a (2023)
مصطلحات موضوعية: broken bandgap, negative differential resistance, selective protein detection, van der Waals heterostructure, Science
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2198-3844
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Honggyun Kim, Vijay D. Chavan, Jamal Aziz, Byoungsu Ko, Jae-Sung Lee, Junsuk Rho, Tukaram D. Dongale, Kyeong-Keun Choi, Deok-Kee Kim
المصدر: IEEE Access, Vol 10, Pp 68724-68730 (2022)
مصطلحات موضوعية: Atomic layer deposition, carrier lifetime, CMOS image sensor, surface passivation, forming gas, HfO₂, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Ruhan E. Ustad, Vijay D. Chavan, Honggyun Kim, Min-ho Shin, Sung-Kyu Kim, Kyeong-Keun Choi, Deok-kee Kim
المصدر: Nanomaterials, Vol 13, Iss 19, p 2642 (2023)
مصطلحات موضوعية: polyimide, photosensitive, Cu RDL, resistivity, advanced packaging, Chemistry, QD1-999
وصف الملف: electronic resource
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Santosh S. Sutar, Suvarna M. Patil, Sunil J. Kadam, Rajanish K. Kamat, Deok-kee Kim, Tukaram D. Dongale
المصدر: ACS Omega, Vol 6, Iss 44, Pp 29982-29992 (2021)
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2470-1343
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Jamal Aziz, Honggyun Kim, Shania Rehman, Muhammad Farooq Khan, Kalyani D. Kadam, Harshada Patil, Sikandar Aftab, Ghulam Dastgeer, Deok‐kee Kim
المصدر: Advanced Electronic Materials, Vol 8, Iss 4, Pp n/a-n/a (2022)
مصطلحات موضوعية: electrical breakdown, flexible diodes, heterostructure, rectification, Schottky barrier, zinc oxide, Electric apparatus and materials. Electric circuits. Electric networks, TK452-454.4, Physics, QC1-999
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2199-160X
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Han Byeol Lee, Young-Hee Joo, Harshada Patil, Gwan-Ha Kim, Insu Kang, Bo Hou, Deok-kee Kim, Doo-Seung Um, Chang-Il Kim
المصدر: Materials Research Express, Vol 10, Iss 1, p 016401 (2023)
مصطلحات موضوعية: BaTiO3, plasma etching, crystallinity, etch rate, perovskite, XRD, Materials of engineering and construction. Mechanics of materials, TA401-492, Chemical technology, TP1-1185
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2053-1591