المؤلفون: Pasqualoni, A., Crane, J., DiOrio, M.

المصدر: Fourth Annual IEEE Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium, 1988. SEMI-THERM IV., Fourth Annual IEEE. :67-77 1988

Relation: 1988 Fourth Annual IEEE Semiconductor Thermal and Temperature Measurement Symposium

المؤلفون: DiOrio, M., Pinamaneni, S.

المصدر: 38th Electronics Components Conference 1988., Proceedings. Electronics Components Conference, 1988., Proceedings of the 38th. :45-48 1988

Relation: 38th Electronics Components Conference 1988., Proceedings.

المؤلفون: DiOrio, M., Pinamaneni, S.

المصدر: 38th Electronics Components Conference 1988., Proceedings. Electronics Components Conference, 1988., Proceedings of the 38th. :406-410 1988

Relation: 38th Electronics Components Conference 1988., Proceedings.

المؤلفون: Mccarty, C. L., Basler, C., Karwowski, M., Erme, M., Nixon, G., Kippes, C., Allan, T., Parrilla, T., Diorio, M., Fijter, S., Stone, N. D., Yost, D. A., Susan Lippold, Regan, J. J., Honein, M. A., Knust, B., Braden, C.

المصدر: MMWR. Morbidity and Mortality Weekly Report
Scopus-Elsevier

مصطلحات موضوعية: Male, Travel, Population Surveillance, Humans, Female, Articles, Contact Tracing, Hemorrhagic Fever, Ebola, Texas, Disease Outbreaks, Ohio

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::f64f82fe7a97b29c57fb47cb75848bf4
http://europepmc.org/articles/PMC5779511

المؤلفون: Kellogg, F., Niehus, N., Diorio, M., Smith, K., Chipman, R., Kirby, J., Jesse Blanton, Dyer, J., Franka, R., Hummel, K., Recuenco, S., Rupprecht, C., Wallace, R., Vora, N. M.

المصدر: MMWR. Morbidity and Mortality Weekly Report
Publons
Scopus-Elsevier

مصطلحات موضوعية: Conservation of Natural Resources, Vaccines, Live, Unattenuated, Rabies, Animals, Wild, Articles, Environmental Exposure, Peptide Fragments, Adenoviridae, Rabies Vaccines, Viral Envelope Proteins, Animals, Humans, Gloves, Protective, Ohio

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=pmid_dedup__::ab354ebaae6456df1081f90544e3273e
http://europepmc.org/articles/PMC4604900

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

المؤلفون: Diorio, M.

المصدر: 2007 IEEE Autotestcon; 2007, p523-526, 4p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.