المؤلفون: Dolganova, I.N., Aleksandrova, P.V., Beshplav, S.-I.T., Reshetov, I.V., Potapov, A.A., Zaytsev, K.I.

المصدر: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO) Laser Optics (ICLO), 2018 International Conference. :490-490 Jun, 2018

Relation: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO)

المؤلفون: Chernomyrdin, N.V., Malakhov, K.M., Beshplav, S.T., Gavdush, A.A., Komandin, G.A., Spector, I.E., Karasik, V.E., Yurchenko, S.O., Dolganova, I.N., Goryaynov, S.A., Reshetov, I.V., Potapov, A.A., Tuchin, V.V., Zaytsev, K.I.

المصدر: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO) Laser Optics (ICLO), 2018 International Conference. :520-520 Jun, 2018

Relation: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO)

المؤلفون: Kurlov, V.N., Shikunova, I.A., Katyba, G.M., Zaytsev, K.I., Chernomyrdin, N.V., Dolganova, I.N., Tuchin, V.V., Reshetov, I.V.

المصدر: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO) Laser Optics (ICLO), 2018 International Conference. :503-503 Jun, 2018

Relation: 2018 International Conference Laser Optics (ICLO)

المؤلفون: Katyba, G.M., Zaytsev, K.I., Dolganova, I.N., Chernomyrdin, N.V., Ulitko, V.E., Rossolenko, S.N., Shikunova, I.A., Kurlov, V.N.

المصدر: In Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials August 2021 67(3)

المؤلفون: Dolganova, I.N., Zaytsev, K.I., Yurchenko, S.O., Karasik, V.E., Tuchin, V.V.

المصدر: IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology IEEE Trans. THz Sci. Technol. Terahertz Science and Technology, IEEE Transactions on. 8(4):403-409 Jul, 2018

المؤلفون: Katyba, G.M., Zaytsev, K.I., Dolganova, I.N., Shikunova, I.A., Chernomyrdin, N.V., Yurchenko, S.O., Komandin, G.A., Reshetov, I.V., Nesvizhevsky, V.V., Kurlov, V.N.

المصدر: In Progress in Crystal Growth and Characterization of Materials December 2018 64(4):133-151

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.