يعرض 1 - 10 نتائج من 126 نتيجة بحث عن '"Donnell, K.M."', وقت الاستعلام: 0.93s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Wilcox, L.M., Donnell, K.M.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 73:1-10 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-18 2023

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 71:1-9 2022

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Rapuano, S., Donnell, K.M., Niewczas, P.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 72:1-2 2023

  5. 5
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Niewczas, P., Donnell, K.M., Ooi, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 71:1-3 2022

  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Image Processing IEEE Trans. on Image Process. Image Processing, IEEE Transactions on. 30:7038-7049 2021

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 70:1-11 2021

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 69(12):9774-9783 Dec, 2020

  9. 9
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Mahmoodi, M., VanZant, L., Donnell, K.M.

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 69(10):7837-7845 Oct, 2020

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement IEEE Trans. Instrum. Meas. Instrumentation and Measurement, IEEE Transactions on. 69(7):4898-4907 Jul, 2020