-
1مؤتمر
المؤلفون: Czornomaz, L., El Kazzi, M., Caimi, D., Rossel, C., Uccelli, E., Sousa, M., Marchiori, C., Richter, M., Siegwart, H., Fompeyrine, J.
المصدر: 70th Device Research Conference Device Research Conference (DRC), 2012 70th Annual. :207-208 Jun, 2012
Relation: 2012 70th Annual Device Research Conference (DRC)
-
2مؤتمر
المؤلفون: Czornomaz, L., Daix, N., Caimi, D., Sousa, M, Erni, R., Rossell, M. D., El-Kazzi, M., Rossel, C., Marchiori, C., Uccelli, E., Richter, M., Siegwart, H., Fompeyrine, J.
المصدر: 2012 International Electron Devices Meeting Electron Devices Meeting (IEDM), 2012 IEEE International. :23.4.1-23.4.4 Dec, 2012
Relation: 2012 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
-
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Czornomaz, L., El Kazzi, M., Hopstaken, M., Caimi, D., Mächler, P., Rossel, C., Bjoerk, M., Marchiori, C., Siegwart, H., Fompeyrine, J.
المصدر: In Solid State Electronics August 2012 74:71-76
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: El Kazzi, M., De Pasquale, C., Sutherland, K., Shriane, A.E., Vincent, G.E., Cistulli, P.A., Bin, Y.S.
المصدر: In Sleep Medicine February 2024 115 Supplement 1:133-134
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: El Kazzi, M., Webb, D.J., Czornomaz, L., Rossel, C., Gerl, C., Richter, M., Sousa, M., Caimi, D., Siegwart, H., Fompeyrine, J., Marchiori, C.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2011 88(7):1066-1069
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Merckling, C., Chang, Y.C., Lu, C.Y., Penaud, J., El-Kazzi, M., Bellenger, F., Brammertz, G., Hong, M., Kwo, J., Meuris, M., Dekoster, J., Heyns, M.M., Caymax, M.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2011 88(4):399-402
-
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Merckling, C., Penaud, J., Kohen, D., Bellenger, F., Alian, A., Brammertz, G., El-Kazzi, M., Houssa, M., Dekoster, J., Caymax, M., Meuris, M., Heyns, M.M.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2009 86(7):1592-1595