-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: S. Bianchi, I. Muñoz-Martin, E. Covi, A. Bricalli, G. Piccolboni, A. Regev, G. Molas, J. F. Nodin, F. Andrieu, D. Ielmini
المصدر: Nature Communications, Vol 14, Iss 1, Pp 1-14 (2023)
مصطلحات موضوعية: Science
وصف الملف: electronic resource
Relation: https://doaj.org/toc/2041-1723
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: R. Alcala, M. Materano, P. D. Lomenzo, L. Grenouillet, T. Francois, J. Coignus, N. Vaxelaire, C. Carabasse, S. Chevalliez, F. Andrieu, T. Mikolajick, U. Schroeder
المصدر: IEEE Journal of the Electron Devices Society, Vol 10, Pp 907-912 (2022)
مصطلحات موضوعية: BEOL, ferroelectric, HfO₂, reliability, Electrical engineering. Electronics. Nuclear engineering, TK1-9971
وصف الملف: electronic resource
-
3
المؤلفون: T. Dubreuil, S. Barraud, B. Previtali, S. Martinie, J. Lacord, S. Martin, N. Castellani, A. Anotta, F. Andrieu
المصدر: 2023 International VLSI Symposium on Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA/VLSI-DAT).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::4637ac4c0d97be7eca32e0b4275cfcf0
https://doi.org/10.1109/vlsi-tsa/vlsi-dat57221.2023.10134182 -
4
المؤلفون: T. Francois, J. Coignus, A. Makosiej, B. Giraud, C. Carabasse, J. Barbot, S. Martin, N. Castellani, T. Magis, H. Grampeix, S. Van Duijn, C. Mounet, P. Chiquet, U. Schroeder, S. Slesazeck, T. Mikolajick, E. Nowak, M. Bocquet, N. Barrett, F. Andrieu, L. Grenouillet
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices. 69:2108-2114
-
5
المؤلفون: L. Reganaz, D. Deleruyelle, Q. Rafhay, J. Minguet Lopez, N. Castellani, J. F. Nodin, A. Bricalli, G. Piccolboni, G. Molas, F. Andrieu
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::321b56f0a9151384af9e1c720e5b3e21
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10117882 -
6
المؤلفون: L. Grenouillet, J. Barbot, J. Laguerre, S. Martin, C. Carabasse, M. Louro, M. Bedjaoui, S. Minoret, S. Kerdilès, C. Boixaderas, T. Magis, C. Jahan, F. Andrieu, J. Coignus
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9e8e0a386fa50f81c95c4bc7797351fd
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118099 -
7دورية أكاديمية
المؤلفون: F. Andrieu, F. Schmidt, B. Schmitt, S. Douté, O. Brissaud
المصدر: The Cryosphere, Vol 10, Pp 2113-2128 (2016)
مصطلحات موضوعية: Environmental sciences, GE1-350, Geology, QE1-996.5
وصف الملف: electronic resource
-
8
المؤلفون: A. Trabelsi, C. Cagli, T. Hirtzlin, O. Cueto, M. C. Cyrille, E. Vianello, V. Meli, V. Sousa, G. Bourgeois, F. Andrieu
المصدر: ESSCIRC 2022- IEEE 48th European Solid State Circuits Conference (ESSCIRC).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::9171e4c9feb2091247445bdd14f59ea5
https://doi.org/10.1109/esscirc55480.2022.9911461 -
9
المؤلفون: G. Cruz Mermy, F. Schmidt, F. Andrieu, T. Cornet, I. Belgacem, N. Altobelli
المصدر: Icarus. 394:115379
مصطلحات موضوعية: Space and Planetary Science, Astronomy and Astrophysics
-
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.