-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Pulcinelli, M., Zoboli, L., De Tommasi, F., Massaroni, C., Altomare, V., Grasso, A., Gizzi, A., Schena, E., Lo Presti, D.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(16):25205-25214 Aug, 2024
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Marston, J., Fusiek, G., Niewczas, P.
المصدر: IEEE Sensors Letters IEEE Sens. Lett. Sensors Letters, IEEE. 8(8):1-4 Aug, 2024
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Kuznetsov, S., Ames, N., Adams, J., Radovinsky, A., Salazar, E.
المصدر: IEEE Transactions on Applied Superconductivity IEEE Trans. Appl. Supercond. Applied Superconductivity, IEEE Transactions on. 34(5):1-4 Aug, 2024
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Yamaguchi, T., Kawashima, H., Matsuda, H., Shinoda, Y.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(14):22419-22428 Jul, 2024
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Singh, H., Fusiek, G., Niewczas, P.
المصدر: IEEE Sensors Letters IEEE Sens. Lett. Sensors Letters, IEEE. 8(7):1-4 Jul, 2024
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Li, S., Alsalman, O., Naku, W., Zhu, C.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(13):20706-20712 Jul, 2024
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Theodosiou, A., Kalli, K., Sapir-Henderson, O.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(13):20669-20673 Jul, 2024
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Rudloff, G., Soto, M.A.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 24(13):20674-20687 Jul, 2024
-
9مؤتمر
المؤلفون: Cuomo, Mariaconsiglia, Marrazzo, Vincenzo Romano, De Vita, Elena, Iadicicco, Agostino, Breglio, Giovanni, Campopiano, Stefania
المصدر: 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0 & IoT) Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0 & IoT), 2024 IEEE International Workshop on. :494-499 May, 2024
Relation: 2024 IEEE International Workshop on Metrology for Industry 4.0 & IoT (MetroInd4.0 & IoT)
-
10دورية أكاديمية
المصدر: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques IEEE Trans. Microwave Theory Techn. Microwave Theory and Techniques, IEEE Transactions on. 72(6):3334-3344 Jun, 2024