-
1مؤتمر
المؤلفون: Yeh, W.-K., Lai, C.-M., Lin, C.-T., Fang, Y.-K., Hu, H.-H., Chen, K.-M., Huang, G.-W.
المصدر: 2005 IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits Electron Devices and Solid-State Circuits, 2005 IEEE Conference on. :91-94 2005
Relation: 2005 IEEE Conference on Electron Devices and Solid-State Circuits
-
2مؤتمر
المؤلفون: Chen, C.-C., Yu, M.-C., Cheng, J.-Y., Wang, M.-F., Lee, T.-L., Chen, S.-C., Yu, C.-H., Liang, M.-S., Chen, C.-H., Yang, C.-W., Fang, Y.-K.
المصدر: 7th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage Plasma- and process-induced damage Plasma- and Process-Induced Damage, 2002 7th International Symposium on. :41-44 2002
Relation: 2002 7th International Symposium on Plasma- and Process-Induced Damage
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Juang, F.-R., Chiu, H.-Y., Fang, Y.-K., Cho, K.-H., Chen, Y.-C.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 59(6):1786-1791 Jun, 2012
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Juang, F.-R., Fang, Y.-K., Ho, H.-C.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 12(5):978-983 May, 2012
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Juang, F.-R., Fang, Y.-K., Chiang, Y.-T., Wei, T.-C., Lin, B.-W.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 11(12):3446-3450 Dec, 2011
-
6دورية أكاديمية
المؤلفون: Chen, S.-M., Fang, Y.-K., Juang, F.-R., Chen, C.-C., Liu, S., Kuo, C.-W., Chao, C.-P., Tseng, H.-C.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(10):3276-3282 Oct, 2011
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Juang, F.-R., Fang, Y.-K., Chiang, Y.-T., Chou, T.-H., Lin, C.-I., Lin, C.-W., Liou, Y.-W.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 11(5):1227-1232 May, 2011
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Chen, M.-S., Fang, Y.-K., Juang, F.-R., Chiang, Y.-T., Lin, C.-I, Lee, T.-H., Chou, S., Ning, J.
المصدر: IEEE Transactions on Electron Devices IEEE Trans. Electron Devices Electron Devices, IEEE Transactions on. 58(3):901-905 Mar, 2011
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Yeh, W.-K., Chen, Y.-T., Huang, F.-S., Hsu, C.-W., Chen, C.-Y., Fang, Y.-K., Gan, K.-J., Chen, P.-Y.
المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 11(1):7-12 Mar, 2011
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Juang, F.-R., Fang, Y.-K., Chiang, Y.-T., Chou, T.-H., Lin, C.-I.
المصدر: IEEE Sensors Journal IEEE Sensors J. Sensors Journal, IEEE. 11(1):150-154 Jan, 2011
Full Text Finder