المؤلفون: Tatarskiy, D. A., Skorokhodov, E. V., Gusev, N. S., Mikhailovski, V. Yu., Petrov, Yu. V., Gusev, S. A.

المصدر: AIP Conference Proceedings; 2019, Vol. 2064 Issue 1, p020005-1-020005-6, 6p

مصطلحات موضوعية: TRANSMISSION electron microscopy, FERROMAGNETIC materials, LORENTZ force, NANOSTRUCTURED materials, MAGNETIC fields, COBALT platinum films, MAGNETIC properties of metallic films, FIELD ion microscopes

المؤلفون: Anikeva, A. E., Petrov, Yu. V., Vyvenko, O. F.

المصدر: AIP Conference Proceedings; 2019, Vol. 2064 Issue 1, p020001-1-020001-8, 8p

مصطلحات موضوعية: ELECTRIC insulators & insulation, HELIUM ions, SECONDARY electron emission, ELECTRON distribution, FIELD ion microscopes, PLATINUM, SILICON nitride, SILICA

المؤلفون: Wang, S. C., Wrigley, J. D., Ehrlich, Gert

المصدر: Journal of Chemical Physics; 10/15/1989, Vol. 91 Issue 8, p5087, 10p

مصطلحات موضوعية: FIELD ion microscopes, DISTRIBUTION (Probability theory), RANDOM walks, DIFFUSION, MOLYBDENUM

المؤلفون: Khairnar, Rajendra S., Dharmadhikari, C. V., Joag, Dilip S.

المصدر: Journal of Applied Physics; 6/15/1989, Vol. 65 Issue 12, p4735, 4p, 3 Diagrams, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: PENCILS, LEAD, GRAPHITE, FIELD ion microscopes, FIELD emission

المؤلفون: Hasan, M. A., Knall, J., Barnett, S. A., Sundgren, J.-E., Markert, L. C., Rockett, A., Greene, J. E.

المصدر: Journal of Applied Physics; 1/1/1989, Vol. 65 Issue 1, p172, 8p, 1 Diagram, 7 Graphs

مصطلحات موضوعية: SILICON, INDIUM, FIELD ion microscopes

المؤلفون: Bernius, Mark T., Ling, Yong-Chien, Morrison, George H.

المصدر: Journal of Applied Physics; 3/1/1987, Vol. 61 Issue 5, p1677, 5p

مصطلحات موضوعية: LIGHT deflectors, FIELD ion microscopes

المؤلفون: Pramanik, Dipankar, Seidman, David N.

المصدر: Journal of Applied Physics; 7/1/1986, Vol. 60 Issue 1, p137, 14p, 2 Black and White Photographs, 8 Diagrams, 2 Charts, 4 Graphs

مصطلحات موضوعية: PLATINUM, KRYPTON, IONS, FIELD ion microscopes

المؤلفون: Kobayashi, Akiko, Sakurai, T., Hashizume, T., Sakata, T.

المصدر: Journal of Applied Physics; 5/15/1986, Vol. 59 Issue 10, p3448, 6p, 1 Diagram, 4 Maps

مصطلحات موضوعية: GALLIUM compounds, TIME-of-flight mass spectrometry, ATOMS, FIELD ion microscopes

المؤلفون: Gorodetskii, V., Drachsel, W., Ehsasi, M., Block, J. H.

المصدر: Journal of Chemical Physics; 5/1/1994, Vol. 100 Issue 9, p6915, 8p

مصطلحات موضوعية: FIELD ion microscopes, HYSTERESIS, SYNCHRONIZATION

المؤلفون: Gorodetskii, V., Drachsel, W., Block, J. H.

المصدر: Journal of Chemical Physics; 5/1/1994, Vol. 100 Issue 9, p6907, 8p

مصطلحات موضوعية: FIELD ion microscopes, IONIZATION (Atomic physics), DIFFUSION