المؤلفون: Liu, R., K. T., A.B., Dorrance, R., Cox, T.F., Jain, R., Acikalin, T., Zhou, Z., Yang, T., Escober-Pelaez, J., Yamada, S., Foust, K.P., Carlton, B.R.

المصدر: IEEE Journal of Solid-State Circuits IEEE J. Solid-State Circuits Solid-State Circuits, IEEE Journal of. 58(5):1285-1298 May, 2023