-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Li, Huiyu, Fu, Liwei, Frenner, Karsten, Osten, Wolfgang
المصدر: In Optical Materials April 2023 138
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Fu, Liwei, Daiber-Huppert, Max, Frenner, Karsten, Osten, Wolfgang
المصدر: In Optics and Lasers in Engineering March 2023 162
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Gödecke, Maria Laura, Bett, Claudia Monika, Buchta, Dominic, Frenner, Karsten, Osten, Wolfgang
المصدر: In Optics and Lasers in Engineering November 2020 134
-
4دورية أكاديمية
المصدر: Journal of the European Optical Society-Rapid Publications, Vol 19, Iss 1, p 27 (2023)
مصطلحات موضوعية: time gating, single pixel camera, compressed sensing, neural networks, Applied optics. Photonics, TA1501-1820, Optics. Light, QC350-467
وصف الملف: electronic resource
-
5دورية أكاديمية
المؤلفون: Fischer Felix, Frenner Karsten, Granai Massimo, Fend Falko, Herkommer Alois
المصدر: Journal of the European Optical Society-Rapid Publications, Vol 19, Iss 1, p 33 (2023)
مصطلحات موضوعية: biomarker detection, feature selection, infrared spectroscopy, tissue differentiation, Applied optics. Photonics, TA1501-1820, Optics. Light, QC350-467
وصف الملف: electronic resource
-
6تقرير
المؤلفون: Jamali, Mohammad, Gerhardt, Ilja, Rezai, Mohammad, Frenner, Karsten, Fedder, Helmut, Wrachtrup, Jörg
مصطلحات موضوعية: Physics - Optics, Condensed Matter - Materials Science, Quantum Physics
URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1406.7209
-
7دورية
المؤلفون: Bodermann, Bernd, Frenner, Karsten, Barnes, Bryan M., Wyss, Silvana, Krüger, Jan, Grundmann, Jana, Bodermann, Bernd, Gao, Sai, Fu, Liwei, Birk, Alexander, Frenner, Karsten, Reichelt, Stephan
المصدر: Proceedings of SPIE; August 2023, Vol. 12619 Issue: 1 p126190Q-126190Q-8, 1135719p
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Fischer Felix, Frenner Karsten, Herkommer Alois M.
المصدر: EPJ Web of Conferences, Vol 266, p 02004 (2022)
وصف الملف: electronic resource
-
9
-
10كتاب إلكتروني
المؤلفون: Fu, LiweiAff2, Frenner, KarstenAff2, Osten, WolfgangAff2
المساهمون: Osten, Wolfgang, editorAff1
المصدر: Fringe 2013 : 7th International Workshop on Advanced Optical Imaging and Metrology. :361-364