-
1
المؤلفون: Fu, Lihong Yang, Zhumeng Li, Guangbao Shan, Qijun Lu
المصدر: Micromachines; Volume 14; Issue 6; Pages: 1180
مصطلحات موضوعية: total ionizing dose (TID) effect, fixed oxide charge, through-silicon via (TSV) structure, irradiation experiment, S-parameter
وصف الملف: application/pdf