يعرض 1 - 8 نتائج من 8 نتيجة بحث عن '"Fullem, Travis Z."', وقت الاستعلام: 0.78s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Neutron Induced Single Event Testing of Commercial Ferroelectric Memory Device (FRAM)

    المؤلفون: Deaton., Terrence F., Tostanoski, Michael J., Peters, Michael K., Hartojo, Kristianto, Lachiewicz, Gerard, Fullem, Travis Z.

    المصدر: 2023 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2023 NSREC) Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2023 NSREC), 2023 IEEE. :1-6 Jul, 2023

    Relation: 2023 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with 2023 NSREC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Commercial Flash Memory Devices with and without Embedded Error Correction Codes (ECC)

    المؤلفون: Allenspach, Mark, Peters, Michael K., Bird, John M., Fullem, Travis Z., Tostanoski, Michael J., Deaton, Terrence F., Hartojo, Kristianto, Strayer, Roy E.

    المصدر: 2019 IEEE Radiation Effects Data Workshop Radiation Effects Data Workshop, 2019 IEEE. :1-7 Jul, 2019

    Relation: 2019 IEEE Radiation Effects Data Workshop (IEEE) (in conjunction with NSREC 2019)

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Commercial Memory Devices with Embedded Error Correction Codes (ECC)

    المؤلفون: Bird, John M., Peters, Michael K., Fullem, Travis Z., Tostanoski, Michael J., Deaton, Terrence F., Hartojo, Kristianto, Strayer, Roy E.

    المصدر: 2017 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2017 IEEE. :1-8 Jul, 2017

    Relation: 2017 IEEE Nuclear & Space Radiation Effects Conference (NSREC 2017)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Neutron Induced Single Event Upset (SEU) Testing of Static Random Access Memory (SRAM) Devices

    المؤلفون: Tostanoski, Michael J., Deaton, Terrence F., Strayer, Roy E., Goldflam, Rudolf, Fullem, Travis Z.

    المصدر: 2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Radiation Effects Data Workshop (REDW), 2014 IEEE. :1-8 Jul, 2014

    Relation: 2014 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) (in conjunction with NSREC 2014)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Examination of the utility of commercial-off-the-shelf memory devices as X-ray detectors

    المؤلفون: Fullem, Travis Z., Lehman, Lawrence P., Cotts, Eric J.

    المصدر: 2007 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record Nuclear Science Symposium Conference Record, 2007. NSS '07. IEEE. 2:1325-1328 Oct, 2007

    Relation: 2007 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Thermal Conductivity of Thermal Interface Materials

    المؤلفون: Fullem, Travis Z., Cotts, Eric J.

    المصدر: MRS Online Proceedings Library. 1053(1)

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    A Simple Implementation of an Electromagnetic Coilgun Using a Camera Flash Circuit.

    المؤلفون: Fullem, Travis Z., Benedict, Michael S.

    المصدر: Physics Teacher; Mar2009, Vol. 47 Issue 3, p181-183, 3p

    مصطلحات موضوعية: MAGNETIC devices, ELECTROMAGNETIC devices, PHYSICS projects, ELECTRONIC materials, PROJECT method in teaching, PHYSICS experiments

    Find this article in full text from Scitation.
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء