المؤلفون: Funada, M., Matsuda, T., Ohzone, T., Odanaka, S., Yamashita, K., Koike, N., Tatsumma, K.

المصدر: ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures (Cat. No.01CH37153) Microelectronic test structures Microelectronic Test Structures, 2001. ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on. :223-228 2001

Relation: ICMTS 2001. Proceedings of the 2001 International Conference on Microelectronic Test Structures

المؤلفون: Funada, M, Seino, K, Takita, K, Itoh, Y, Toyoshima, G, Takagi, T, Komaru, M, Mizutamari, H, Mineno, H, Ohuchi, C, Nishigaki, T, Takeuchi, M, Nishida, M, Saito, H

المصدر: 1995 25th European Microwave Conference Microwave Conference, 1995. 25th European. 1:12-15 Sep, 1995

Relation: 1995 25th European Microwave Conference

المؤلفون: Nakayama, H., Nakamura, T., Funada, M., Ohashi, Y., Kato, M.

المصدر: 2004 Proceedings. 54th Electronic Components and Technology Conference (IEEE Cat. No.04CH37546) Electronic components and technology Electronic Components and Technology Conference, 2004. Proceedings. 54th. 2:1371-1375 Vol.2 2004

Relation: 2004 Proceedings. 54th Electronic Components and Technology Conference

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.