المؤلفون: Lee, J., Lee, H. J., Averitt, R. D., Trugman, S. A., Demsar, J., Funk, D. J., Hur, N. H., Moritomo, Y., Taylor, A. J., Prasankumar, R. P., Yarotski, D. A.

مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Strongly Correlated Electrons

URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1609.09155

المؤلفون: Lee, H. J., Averitt, R. D., Demsar, J., Funk, D. J., Taylor, A. J., Hur, N. H., Moritomo, Y.

المصدر: 2006 Conference on Lasers and Electro-Optics and 2006 Quantum Electronics and Laser Science Conference Lasers and Electro-Optics, 2006 and 2006 Quantum Electronics and Laser Science Conference. CLEO/QELS 2006. Conference on. :1-2 May, 2006

Relation: 2006 Conference on Lasers & Electro-Optics/Quantum Electronics and Laser Science Conference (CLEO/QELS)

المؤلفون: Peterson, P. D., Mortensen, K. S., Idar, D. J., Asay, B. W., Funk, D. J.

المصدر: Journal of Materials Science. March 2001 36(6):1395-1400

المؤلفون: Sappey, A. D., Funk, D. J.

المصدر: Applied Physics B: Lasers and Optics. April 1993 56(4):229-234

المؤلفون: Bolme, C. A.^{Aff1, IDs0033900846121_cor1}, Funk, D. J.

المصدر: Applied Physics A: Materials Science & Processing. 92(4)

المؤلفون: Bolme, C. A., McGrane, S. D., Moore, D. S., Funk, D. J.

المصدر: Journal of Applied Physics; 8/1/2007, Vol. 102 Issue 3, p033513, 8p, 1 Black and White Photograph, 2 Diagrams, 7 Graphs

مصطلحات موضوعية: ELLIPSOMETRY, INTERFEROMETRY, OPTICAL polarization, THIN films, SOLID state electronics, SURFACES (Technology), OPTICAL constants, OPTICAL reflection

المؤلفون: McGrane, S. D., Moore, D. S., Funk, D. J.

المصدر: Journal of Applied Physics; 5/1/2003, Vol. 93 Issue 9, p5063, 6p, 1 Diagram, 5 Graphs

مصطلحات موضوعية: THIN films, INTERFEROMETRY

المؤلفون: Gahagan, K. T., Moore, D. S., Funk, D. J., Reho, J. H., Rabie, R. L.

المصدر: Journal of Applied Physics; 10/1/2002, Vol. 92 Issue 7, p3679, 4p, 1 Black and White Photograph, 1 Diagram, 2 Graphs

مصطلحات موضوعية: INTERFEROMETRY, SHOCK waves

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.