-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: M.-L. Pourteau, A. Gharbi, P. Brianceau, J.-A. Dallery, F. Laulagnet, G. Rademaker, R. Tiron, H.-J. Engelmann, J. von Borany, K.-H. Heinig, M. Rommel, L. Baier
المصدر: Micro and Nano Engineering, Vol 9, Iss , Pp 100074- (2020)
مصطلحات موضوعية: Single-electron-transistor, Multilayer nanopillars, Si nanodots, E-beam lithography, ICP-RIE, EFTEM, Electronics, TK7800-8360, Technology (General), T1-995
وصف الملف: electronic resource
-
2
المؤلفون: J von Borany, H-J Engelmann, K-H Heinig, E Amat, G Hlawacek, F Klüpfel, R Hübner, W Möller, M-L Pourteau, G Rademaker, M Rommel, L Baier, P Pichler, F Perez-Murano, R Tiron
المصدر: Semiconductor Science and Technology. 38:055011
مصطلحات موضوعية: Materials Chemistry, Electrical and Electronic Engineering, Condensed Matter Physics, Electronic, Optical and Magnetic Materials
-
3
المؤلفون: A del Moral, E Amat, H-J Engelmann, M-L Pourteau, G Rademaker, D Quirion, N Torres-Herrero, M Rommel, K-H Heinig, J von Borany, R Tiron, J Bausells, F Perez-Murano
المصدر: Semiconductor Science and Technology 37(2022), 125014-125023
مصطلحات موضوعية: hybrid circuit, MOSFET, CMOS, Materials Chemistry, Electrical and Electronic Engineering, Condensed Matter Physics, single electron transistor, vertical nanopillar, Electronic, Optical and Magnetic Materials
وصف الملف: application/pdf
-
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5
المؤلفون: G. Rademaker, L. Penlap Woguia, Patrice Gergaud, Maxime Besacier, Jérôme Reche
المصدر: Metrology, Inspection, and Process Control for Semiconductor Manufacturing XXXV
مصطلحات موضوعية: Artificial neural network, business.industry, Computer science, Computer Science::Neural and Evolutionary Computation, Pattern recognition, Sensor fusion, Metrology, Characterization (materials science), Microscopy, Line (geometry), Development (differential geometry), Artificial intelligence, business, Critical dimension
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_dedup___::7606a06c8398f2e450725cdf8d3e7e0f
https://doi.org/10.1117/12.2583590 -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.