يعرض 1 - 10 نتائج من 16 نتيجة بحث عن '"Gaire, Churamani"', وقت الاستعلام: 0.81s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Epitaxial SiGe seed layer thickness for PFET performance tuning

    المؤلفون: Shao, Dali, Briggs, Kyle, Kenney, Crystal, Chadwick, Aaron, Gaire, Churamani, Holt, Judson, Peng, Hongying, Hovhannisyan, Anahit, Chen, James, Tong, Weihua

    المصدر: 2020 31st Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2020 31st Annual. :1-4 Aug, 2020

    Relation: 2020 31st Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Advanced Process Control (APC) for Selective EPI process in 300mm Fab

    المؤلفون: Peng, Hongying, Caruso, Jonathan, Manian, Dinesh Balasubra, Chakravorty, Shiladitya, Mickelson, Ryan, Tay, Jensen, Cabral, Stephen, Lu, Lixin, Gaire, Churamani, Holt, Judson, Braithwaite, Glyn, Shao, Dali, Tong, Wei Hua

    المصدر: 2020 31st Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC), 2020 31st Annual. :1-4 Aug, 2020

    Relation: 2020 31st Annual SEMI Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Effect of Si precursors on micro-loading, morphology and throughput of selective epitaxial growth of si and Si1−xGex

    المؤلفون: Gaire, Churamani, Krishnan, Bharat, Liu, Jinping

    المصدر: 2015 China Semiconductor Technology International Conference Semiconductor Technology International Conference (CSTIC), 2015 China. :1-4 Mar, 2015

    Relation: 2015 China Semiconductor Technology International Conference (CSTIC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    RHEED Pole Figure Measurements of Biaxial Thin Film Growth Front Evolution

    المؤلفون: Wang, Gwo-Ching, Liu, Yu, Gaire, Churamani, Yuan, Wen, Lu, Toh-Ming

    المصدر: MRS Online Proceedings Library. 1308(1)

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Full structure transistor process monitoring of boron and germanium in PFET EPI using in-line XPS.

    المؤلفون: Jusang Lee, Subramanian, Ganesh, Medikonda, Manasa, Lazkani, Hossam, Holt, Judson, Gaire, Churamani, Isbester, Paul, Klare, Mark

    المصدر: Proceedings of SPIE; 1/22/2019, Vol. 10959, p1-6, 6p

    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية
    Full structure transistor process monitoring of boron and germanium in PFET EPI using in-line XPS

    المؤلفون: Ukraintsev, Vladimir A., Adan, Ofer, Lee, Jusang, Subramanian, Ganesh, Medikonda, Manasa, Lazkani, Hossam, Holt, Judson, Gaire, Churamani, Isbester, Paul, Klare, Mark

    المصدر: Proceedings of SPIE; May 2019, Vol. 10959 Issue: 1 p109590N-109590N-6, 986317p

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    RHEED Pole Figure Measurements of Biaxial Thin Film Growth Front Evolution.

    المؤلفون: Wang, Gwo-Ching, Liu, Yu, Gaire, Churamani, Yuan, Wen, Lu, Toh-Ming

    المصدر: MRS Online Proceedings Library; 2010, Vol. 1308 Issue 1, p1-12, 12p

    Find this article in full text from Springer Verlag.
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء