يعرض 1 - 10 نتائج من 10 نتيجة بحث عن '"Gehlhausen, M."', وقت الاستعلام: 1.14s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    An updated data compendium of enhanced low dose rate sensitive (ELDRS) bipolar linear circuits

    المؤلفون: Pease, R.L., McClure, S., Johnston, A.H., Gorelick, J., Turflinger, T.L., Gehlhausen, M., Krieg, J., Carriere, T., Shaneyfelt, M.

    المصدر: 2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop. NSREC 2001. Workshop Record. Held in conjunction with IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (Cat. No.01TH8588) Radiation effects data workshop Radiation Effects Data Workshop, 2001 IEEE. :127-133 2001

    Relation: 2001 IEEE Radiation Effects Data Workshop. NSREC 2001. Workshop Record

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Total dose induced increase in input offset voltage in JFET input operational amplifiers

    المؤلفون: Pease, R.L., Krieg, J., Gehlhausen, M., Platteter, D., Black, J.

    المصدر: 1999 Fifth European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. RADECS 99 (Cat. No.99TH8471) Radiation and its effects on components and systems Radiation and Its Effects on Components and Systems, 1999. RADECS 99. 1999 Fifth European Conference on. :569-572 1999

    Relation: 1999 Fifth European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems. RADECS 99

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    دورية أكاديمية
    Enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS) in a voltage comparator which only utilizes complementary vertical NPN and PNP transistors

    المؤلفون: Krieg, J.F., Titus, J.L., Emily, D., Gehlhausen, M., Swonger, J., Platteter, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 46(6):1616-1619 Dec, 1999

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    دورية أكاديمية
    Hardness assurance implications of bimodal total dose response in a bipolar linear voltage comparator

    المؤلفون: Krieg, J., Turflinger, T., Titus, J., Cole, P., Baker, P., Gehlhausen, M., Emily, D., Yang, L., Pease, R.L., Barnaby, H., Schrimpf, R., Maher, M.C.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 46(6):1627-1632 Dec, 1999

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    دورية أكاديمية
    Identification of degradation mechanisms in a bipolar linear voltage comparator through correlation of transistor and circuit response

    المؤلفون: Barnaby, H.J., Schrimpf, R.D., Pease, R.L., Cole, P., Turflinger, T., Krieg, J., Titus, J., Emily, D., Gehlhausen, M., Witczak, S.C., Maher, M.C., van Nort, D.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 46(6):1666-1673 Dec, 1999

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية
    Evaluation of proposed hardness assurance method for bipolar linear circuits with enhanced low dose rate sensitivity (ELDRS)

    المؤلفون: Pease, R.L., Gehlhausen, M., Krieg, J., Titus, J., Turflinger, T., Emily, D., Cohn, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 45(6):2665-2672 Dec, 1998

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Elevated temperature irradiation of bipolar linear microcircuits

    المؤلفون: Pease, R.L., Gehlhausen, M.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 43(6):3161-3166 Dec, 1996

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية
    Correlation of Particle-Induced Displacement Damage in Silicon

    المؤلفون: Summers, G. P., Burke, E. A., Dale, C. J., Wolicki, E. A., Marshall, P. W., Gehlhausen, M. A.

    المصدر: IEEE Transactions on Nuclear Science IEEE Trans. Nucl. Sci. Nuclear Science, IEEE Transactions on. 34(6):1133-1139 Dec, 1987

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    مؤتمر
    Total dose induced increase in input offset voltage in JFET input operational amplifiers.

    المؤلفون: Pease, R.L., Krieg, J., Gehlhausen, M., Platteter, D., Black, J.

    المصدر: 1999 Fifth European Conference on Radiation & Its Effects on Components & Systems RADECS 99 (Cat No99TH8471); 2000, p569-572, 4p

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    مؤتمر
    Correlation of particle-induced displacement damage in silicon

    المساهمون: Gehlhausen, M

    المصدر: IEEE Trans. Nucl. Sci.; (United States); NS-34:6; Conference: Annual conference on nuclear and space radiation effects, Snowmass Village, CO, USA, 28 Jul 1987

    وصف الملف: Medium: X; Size: Pages: 1134-1139

    URL الوصول: http://www.osti.gov/scitech/biblio/6935358

    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء