-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Merlo, L., Rossetto, I., Cerati, L., Ghidini, G., Milani, A., Toia, F., Piagge, R., Di Biccari, L., Gevinti, E., Croce, G., Andreini, A.
المصدر: In Microelectronics Reliability September 2019 100-101
-
2
المؤلفون: Gevinti, E., Cerati, L., Sambi, M., Dissegna, M., Cecchetto, L., Andreini, A., Tazzoli, A., Gaudenzio Meneghesso
المصدر: Scopus-Elsevier
مصطلحات موضوعية: Insulated Gate Bipolar Transistor (IGBT), Transmission Line Pulse (TLP), Electrostatic discharge (ESD)
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::a7aab2a23da9e79e71c7e6526b56568c
http://hdl.handle.net/11577/2448881 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7مؤتمر
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.