-
1دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
2مؤتمر
المؤلفون: Alba, S., Ghio, E., Micciche', G., Valentini, G., Batani, D.
المصدر: 1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage (Cat. No.98EX100) Plasma process-induced damage Plasma Process-Induced Damage, 1998 3rd International Symposium on. :140-143 1998
Relation: 1998 3rd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage
-
3مؤتمر
المؤلفون: Alba, S., Colognese, A., Ghio, E., Maugain, F., Rivera, G.
المصدر: 2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage Plasma Process-Induced Damage, 1997., 2nd International Symposium on. :237-240 1997
Relation: 2nd International Symposium on Plasma Process-Induced Damage
-
4مؤتمر
المؤلفون: Alba, S., Colognese, A., Ghio, E.
المصدر: European Workshop Materials for Advanced Metallization, Materials for advanced metallization Materials for Advanced Metallization, 1997. MAM '97 Abstracts Booklet., European Workshop. :146-147 1997
Relation: European Workshop Materials for Advanced Metallization. MAM'97 Abstracts Booklet
-
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6
المؤلفون: Jennifer L. L. Gant, Omar, P., Langkjaer, L., Ghio, E., Vaccari, E., Boon, G-J, Ehmke, D.
المصدر: Fizetésképtelenségi Jog (Insolvency Law), 1(2021/2-3), 1-9
UDORA Repository University of Derbyوصف الملف: application/pdf
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::e0e397b1e14775dfe0ab755f35a624e1
https://hdl.handle.net/1887/3513796 -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10مؤتمر
المؤلفون: Annunziata, R., Libera, G. Dalla, Ghio, E., Maggis, A.
المصدر: ESSDERC '89: 19th European Solid State Device Research Conference Solid State Device Research Conference, 1989. ESSDERC '89. 19th European. :715-718 Sep, 1989
Relation: 19th European Solid State Device Research Conference