المؤلفون: Van den Hove, L., Goethals, A.M., Ronse, K., Van Bavel, M., Vandenberghe, G.

المصدر: Digest. International Electron Devices Meeting, Electron devices meeting Electron Devices Meeting, 2002. IEDM '02. International. :3-8 2002

Relation: IEEE International Electron Devices Meeting

المؤلفون: Ronse, K., De Bisschop, P., Goethals, A.M., Hermans, J., Jonckheere, R., Light, S., Okoroanyanwu, U., Watso, R., McAfferty, D., Ivaldi, J., Oneil, T., Sewell, H.

المصدر: In Microelectronic Engineering 2004 73:5-10

المؤلفون: Goethals, A.M., Jonckheere, R., van Roey, F., Hermans, J., Eliat, A., Ronse, K., Wong, P., Zandbergen, P., Vasconi, M., Severgnini, E., Henke, W., Hohle, C., Henry, Dominique, Thony, Ph, Markey, L., Schiavone, P., Fuard, D.

المساهمون: Laboratoire des technologies de la microélectronique (LTM), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Université Joseph Fourier - Grenoble 1 (UJF)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Clot, Marielle

المصدر: 157nm Symposium
157nm Symposium, 2002, Antwerp, Belgium

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::698c48dd2391537f01ed150fabbdb107
https://hal.archives-ouvertes.fr/hal-00486211

المؤلفون: Veloso, A., Demuynck, S., Ercken, M., Goethals, A.M., Locorotondo, S., Lazzarino, F., Altamirano, E., Huffman, C., De Keersgieter, A., Brus, S., Demand, M., Struyf, H., De Backer, J., Hermans, J., Delvaux, C., Baudemprez, B., Vandeweyer, T., Van Roey, F., Baerts, C., Goossens, D.

المصدر: 2009 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM); 2009, p1-4, 4p

المؤلفون: Veloso, A., Demuynck, S., Ercken, M., Goethals, A.M., Demand, M., de Marneffe, J.-F., Altamirano, E., De Keersgieter, A., Delvaux, C., De Backer, J., Brus, S., Hermans, J., Baudemprez, B., Van Roey, F., Lorusso, G.F., Baerts, C., Goossens, D., Vrancken, C., Mertens, S., Versluijs, J.J.

المصدر: 2008 IEEE International Electron Devices Meeting; 2008, p1-4, 4p

المؤلفون: Sugihara, T., Van Roey, F., Goethals, A.M., Ronse, K., Van den hove, L.

المصدر: Microelectronic Engineering; May 1999, Vol. 46 Issue: 1-4 p339-343, 5p

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.

لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.