المؤلفون: Llido, R., Sarafianos, A., Gagliano, O., Serradeil, V., Goubier, V., Lisart, M., Haller, G., Pouget, V., Lewis, D., Dutertre, J. M., Tria, A.

المصدر: 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2012 19th IEEE International Symposium on the. :1-6 Jul, 2012

Relation: 2012 19th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA 2012)

المؤلفون: Sikora, A., Fares, L., Adrian, J., Goubier, V., Delobbe, A., Corbin, A., Sarnet, T., Sentis, M.

المصدر: 2017 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC) Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC, 2017 Conference on). :1-1 Jun, 2017

Relation: 2017 Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & European Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-EQEC)

المؤلفون: Machouat, A., Haller, G., Goubier, V., Lewis, D., Perdu, P., Pouget, V., Essely, F.

المصدر: 2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2009. IPFA 2009. 16th IEEE International Symposium on the. :191-194 Jul, 2009

Relation: 2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

المؤلفون: Machouat, A., Haller, G., Goubier, V., Lewis, D., Pouget, V., Fouillat, P., Essely, F., Perdu, P.

المصدر: 2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2008. IPFA 2008. 15th International Symposium on the. :1-5 Jul, 2008

Relation: 2008 15th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

المؤلفون: Llido, R., Gomez, J., Goubier, V., Haller, G., Pouget, V., Lewis, D.

المصدر: 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2012 IEEE International. :FA.2.1-FA.2.5 Apr, 2012

Relation: 2012 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

المؤلفون: Firiti, A., Faujour, D., Haller, G., Moragues, J.M., Goubier, V., Perdu, P., Beaudoin, F., Lewis, D.

المصدر: In Microelectronics Reliability 2003 43(9):1563-1568

المؤلفون: Juget, J.^Aff1, Goubier, V.^Aff2, Barthélémy, D.^Aff2

المساهمون: Dumont, H. J., editor, Kaster, J. L., editor

المصدر: Aquatic Oligochaete Biology : Proceedings of the 4th International Symposium on Aquatic Oligochaete Biology. 51:177-184

المؤلفون: Sarafianos, A, Llido, R, Gagliano, O, Serradeil, V, Lisart, Mathieu, Goubier, V., Dutertre, Jean-Max, Tria, Assia, Pouget, Vincent, Lewis, Dean

المساهمون: STMicroelectronics [Tours] (ST-TOURS), Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Département Systèmes et Architectures Sécurisés (SAS-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC, Laboratoire Systèmes et Architectures Sécurisés (LSAS), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC-École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC-CEA Tech en régions (CEA-TECH-Reg), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Dutertre, Jean-Max, Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)

المصدر: 38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, ISTFA 2012, Nov 2012, Phoenix, United States

مصطلحات موضوعية: Photoelectric Laser Stimulation, [SPI]Engineering Sciences [physics], [SPI] Engineering Sciences [physics], [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

وصف الملف: application/pdf

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https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-01130636/document

المؤلفون: Alexandre, Sarafianos, Llido, R., Dutertre, Jean-Max, Gagliano, Olivier, Serradeil, Valérie, Lisart, Mathieu, Goubier, V., Tria, Assia, Pouget, Vincent, Lewis, D.

المساهمون: Département Systèmes et Architectures Sécurisés (SAS-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC, STMicroelectronics [Rousset] (ST-ROUSSET), Centre Microélectronique de Provence - Site Georges Charpak (CMP-GC) (CMP-ENSMSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT), Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Le Bouder, Hélène, Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1

المصدر: ISTFA Proceedings 2012
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis
38th International Symposium for Testing and Failure Analysis, Nov 2012, Phoenix, United States. pas encore paru
Microelectronics Reliability
SPECIAL ISSUE 23rd EUROPEAN SYMPOSIUM ON THE RELIABILITY OF ELECTRON DEVICES, FAILURE PHYSICS AND ANALYSIS
Microelectronics Reliability, Elsevier, 2012, 52, pp.2035-2038

مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, ComputingMilieux_MISCELLANEOUS

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1c0b188149cbdeef232ccc50cf638d65
https://hal-emse.ccsd.cnrs.fr/emse-00742629

المؤلفون: Sarafianos, Alexandre, Llido, R., Gagliano, Olivier, Serradeil, Valérie, Goubier, V., Lisart, M., Haller, G., Pouget, V., Lewis, D., Dutertre, Jean-Max, Tria, Assia

المساهمون: Département Systèmes et Architectures Sécurisés (SAS-ENSMSE), École des Mines de Saint-Étienne (Mines Saint-Étienne MSE), Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-Institut Mines-Télécom [Paris] (IMT)-CMP-GC, STMicroelectronics [Rousset] (ST-ROUSSET), Laboratoire de l'intégration, du matériau au système (IMS), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1 (UB)-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives - Laboratoire d'Electronique et de Technologie de l'Information (CEA-LETI), Direction de Recherche Technologique (CEA) (DRT (CEA)), Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA)-Commissariat à l'énergie atomique et aux énergies alternatives (CEA), Université Sciences et Technologies - Bordeaux 1-Institut Polytechnique de Bordeaux-Centre National de la Recherche Scientifique (CNRS), Le Bouder, Hélène

المصدر: 19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS
19th IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON THE PHYSICAL AND FAILURE ANALYSIS OF INTEGRATED CIRCUITS, Jul 2012, Singapore, Singapore. pp.1-6

مصطلحات موضوعية: [SPI.NANO] Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics, [SPI.NANO]Engineering Sciences [physics]/Micro and nanotechnologies/Microelectronics

URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=dedup_wf_001::1f874ff400a004cdab189a0134b18eb9
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