-
1دورية
المؤلفون: Liddle, J. Alexander, Ruiz, Ricardo, Russew, M., Benker, A., Herrmann, J., Oberbiermann, T., Grützner, S., Koch, M., Wolf, J., Voigt, A., Schleunitz, A., Grützner, G.
المصدر: Proceedings of SPIE; April 2024, Vol. 12956 Issue: 1 p129560R-129560R-4, 1166045p
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Thesen, M.W., Ruttloff, S., Limberg, R.P.F., Vogler, M., Nees, D., Grützner, G.
المصدر: In Microelectronic Engineering 1 July 2014 123:121-125
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Messerschmidt, M., Schleunitz, A., Spreu, C., Werner, T., Vogler, M., Reuther, F., Bertz, A., Schift, H., Grützner, G.
المصدر: In Microelectronic Engineering October 2012 98:107-111
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Wangler, N., Beck, S., Ahrens, G., Voigt, A., Grützner, G., Müller, C., Reinecke, H.
المصدر: In Microelectronic Engineering September 2012 97:92-95
-
5دورية
المؤلفون: Liddle, J. Alexander, Ruiz, Ricardo, Schleunitz, A., Schuster, C., Voigt, A., Russew, M., Lohse, M., Heinrich, M., Grützner, G.
المصدر: Proceedings of SPIE; May 2023, Vol. 12497 Issue: 1 p124970V-124970V-3, 1124734p
-
6دورية
المؤلفون: Liddle, J. Alexander, Ruiz, Ricardo, Wolf, J., Ferstl, M., Voigt, A., Grützner, S., Schleunitz, A., Grützner, G.
المصدر: Proceedings of SPIE; May 2023, Vol. 12497 Issue: 1 p124970F-124970F-11, 12372042p
-
7دورية أكاديمية
المؤلفون: Atasoy, H., Vogler, M., Haatainen, T., Schleunitz, A., Jarzabek, D., Schift, H., Reuther, F., Gruetzner, G., Rymuza, Z.
المصدر: In Microelectronic Engineering August 2011 88(8):1902-1905
-
8دورية أكاديمية
المؤلفون: Voigt, A., Ostrzinski, U., Pfeiffer, K., Kim, J.Y., Fakhfouri, V., Brugger, J., Gruetzner, G.
المصدر: In Microelectronic Engineering August 2011 88(8):2174-2179
-
9دورية أكاديمية
المؤلفون: Ingrosso, C., Martin, C., Llobera, A., Perez Murano, F., Innocenti, C., Sangregorio, C., Voigt, A., Gruetzner, G., Brugger, J., Striccoli, M., Agostiano, A., Curri, M.L.
المصدر: In Procedia Chemistry September 2009 1(1):580-584
-
10دورية أكاديمية
المؤلفون: Martin, C., Llobera, A., Villanueva, G., Voigt, A., Gruetzner, G., Brugger, J., Perez-Murano, F.
المصدر: In Microelectronic Engineering 2009 86(4):1226-1229