يعرض 1 - 10 نتائج من 109 نتيجة بحث عن '"Gunawardana, M."', وقت الاستعلام: 0.93s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.

    المصدر: IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications IEEE Lett. on Electromagn. Compat. Pract. and Appl. Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, IEEE Letters on. 4(3):66-70 Sep, 2022

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Gunawardana, M., Ng, A., Kordi, B.

    المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 37(4):2997-3005 Aug, 2022

  3. 3
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.

    المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 35(2):1020-1027 Apr, 2020

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Gunawardana, M., Fattal, F., Kordi, B.

    المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 34(5):1948-1956 Oct, 2019

  5. 5
    مؤتمر

    المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.

    المصدر: 2018 Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama) Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama), 2018 Progress in. :559-564 Aug, 2018

    Relation: 2018 Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama)

  6. 6
    مؤتمر

    المصدر: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the. :375-378 Jun, 2014

    Relation: 2014 IEEE 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

  7. 7
    مؤتمر

    المصدر: Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003 Physical and failure analysis of integrated circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2003. IPFA 2003. Proceedings of the 10th International Symposium on the. :12-15 2003

    Relation: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits

  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

  10. 10
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.