-
1دورية أكاديمية
المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.
المصدر: IEEE Letters on Electromagnetic Compatibility Practice and Applications IEEE Lett. on Electromagn. Compat. Pract. and Appl. Electromagnetic Compatibility Practice and Applications, IEEE Letters on. 4(3):66-70 Sep, 2022
-
2دورية أكاديمية
المؤلفون: Gunawardana, M., Ng, A., Kordi, B.
المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 37(4):2997-3005 Aug, 2022
-
3دورية أكاديمية
المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.
المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 35(2):1020-1027 Apr, 2020
-
4دورية أكاديمية
المؤلفون: Gunawardana, M., Fattal, F., Kordi, B.
المصدر: IEEE Transactions on Power Delivery IEEE Trans. Power Delivery Power Delivery, IEEE Transactions on. 34(5):1948-1956 Oct, 2019
-
5مؤتمر
المؤلفون: Gunawardana, M., Kordi, B.
المصدر: 2018 Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama) Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama), 2018 Progress in. :559-564 Aug, 2018
Relation: 2018 Progress in Electromagnetics Research Symposium (PIERS-Toyama)
-
6مؤتمر
المؤلفون: Dayanand, N., Quah, A. C. T., Chen, C. Q., Neo, S. P., Ang, G. B., Gunawardana, M., Mai, Z. H., Lam, J. C.
المصدر: Proceedings of the 21th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA), 2014 IEEE 21st International Symposium on the. :375-378 Jun, 2014
Relation: 2014 IEEE 21st International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)
-
7مؤتمر
المؤلفون: Song, Z.G., Loh, S.K., Gunawardana, M., Oh, C.K., Redkar, S.
المصدر: Proceedings of the 10th International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits. IPFA 2003 Physical and failure analysis of integrated circuits Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, 2003. IPFA 2003. Proceedings of the 10th International Symposium on the. :12-15 2003
Relation: IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits
-
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.