-
1
المؤلفون: H. Takahashi, Y. Okamoto, T. Hamada, Y. Komura, S. Watanabe, K. Tsuda, H. Sawai, T. Matsuzaki, Y. Ando, T. Onuki, H. Kunitake, S. Yamazaki, D. Kobayashi, A. Ikuta, T. Makino, T. Ohshima
المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::d5ddfdc595e5b2e5fa797f5550859982
https://doi.org/10.1109/irps48203.2023.10118302 -
2
المؤلفون: M. Endo, S. Numata, K. Ohshima, Y. Egi, F. Isaka, T. Ohno, S. Tezuka, T. Hamada, K. Furutani, K. Tsuda, T. Matsuzaki, T. Onuki, T. Murakawa, H. Kunitake, M. Kobayashi, S. Yamazaki
المصدر: 2022 International Electron Devices Meeting (IEDM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::af173ed46fe9de1d4652cffc60f90d3b
https://doi.org/10.1109/iedm45625.2022.10019506 -
3دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
4دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
5دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
6دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
7دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
8دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل. -
9
المؤلفون: M. Watanabe, S. Mijalkovic, B. Tudor, K. Tsuda, H. Kunitake, S. Yamazaki
المصدر: 2022 6th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM).
URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=doi_________::5d7b4296be2c355bdb4c25958f6ca4de
https://doi.org/10.1109/edtm53872.2022.9798120 -
10دورية أكاديمية
لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.
تسجيل الدخول للوصول الكامل.