يعرض 1 - 10 نتائج من 1,200 نتيجة بحث عن '"HPD"', وقت الاستعلام: 1.43s تنقيح النتائج
  1. 1
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Ono, Y., Peng, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Aerospace and Electronic Systems IEEE Trans. Aerosp. Electron. Syst. Aerospace and Electronic Systems, IEEE Transactions on. 60(2):1679-1691 Apr, 2024

  2. 2
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Fan, T., Dong, Y., Peng, C.

    المصدر: IEEE Transactions on Reliability IEEE Trans. Rel. Reliability, IEEE Transactions on. 73(1):536-548 Mar, 2024

  3. 3
    مؤتمر

    المصدر: 2023 IEEE 6th International Electrical and Energy Conference (CIEEC) Electrical and Energy Conference (CIEEC), 2023 IEEE 6th International. :2183-2187 May, 2023

    Relation: 2023 IEEE 6th International Electrical and Energy Conference (CIEEC)

  4. 4
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Wu, Y., Olson, G.F., Peretti, L.

    المصدر: IEEE Transactions on Industrial Electronics IEEE Trans. Ind. Electron. Industrial Electronics, IEEE Transactions on. 70(8):7753-7760 Aug, 2023

  5. 5
    دورية أكاديمية
  6. 6
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing Geoscience and Remote Sensing, IEEE Transactions on. 61:1-15 2023

  7. 7
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Wang, Z., Hu, J., Feng, X., Kang, X., Mo, Y.

    المصدر: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing Geoscience and Remote Sensing, IEEE Transactions on. 61:1-14 2023

  8. 8
    دورية أكاديمية

    المؤلفون: Yang, Z., Cheng, Y., Wu, H., Li, X., Wang, H.

    المصدر: IEEE Transactions on Geoscience and Remote Sensing IEEE Trans. Geosci. Remote Sensing Geoscience and Remote Sensing, IEEE Transactions on. 61:1-15 2023

  9. 9
    مؤتمر

    المصدر: IGARSS 2022 - 2022 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium Geoscience and Remote Sensing Symposium, IGARSS 2022 - 2022 IEEE International. :7034-7037 Jul, 2022

    Relation: IGARSS 2022 - 2022 IEEE International Geoscience and Remote Sensing Symposium

  10. 10
    دورية أكاديمية

    المصدر: IEEE Transactions on Device and Materials Reliability IEEE Trans. Device Mater. Relib. Device and Materials Reliability, IEEE Transactions on. 22(3):457-461 Sep, 2022