يعرض 1 - 10 نتائج من 22 نتيجة بحث عن '"Haase, Gaddi S."', وقت الاستعلام: 1.07s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Understanding the Initial Stages of Time Dependent Dielectric Breakdown in Si/SiO2 MOSFETs Utilizing EDMR and NZFMR

    المؤلفون: Sharov, Fedor V., Moxim, Stephen. J., Lenahan, Patrick M., Hughart, David R., Haase, Gaddi S., McKay, Colin. G.

    المصدر: 2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2021 IEEE International. :1-5 Oct, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    Electrically Detected Magnetic Resonance Study of High-Field Stress Induced Si/SiO2 Interface Defects

    المؤلفون: Moxim, Stephen J., Lenahan, Patrick M., Sharov, Fedor V., Haase, Gaddi S., Hughart, David R.

    المصدر: 2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW) Integrated Reliability Workshop (IIRW), 2020 IEEE International. :1-4 Oct, 2020

    Relation: 2020 IEEE International Integrated Reliability Workshop (IIRW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Stress factor assessment for microsystems-enabled photovoltaics

    المؤلفون: Yang, Benjamin B., Cruz-Campa, Jose L., Haase, Gaddi S., Tangyunyong, Paiboon, Okandan, Murat, Nielson, Gregory N.

    المصدر: 2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialist Conference (PVSC) Photovoltaic Specialist Conference (PVSC), 2014 IEEE 40th. :1305-1309 Jun, 2014

    Relation: 2014 IEEE 40th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    An alternativemodel for interconnect low-k dielectric lifetime dependence on voltage

    المؤلفون: Haase, Gaddi S.

    المصدر: 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium Reliability Physics Symposium, 2008. IRPS 2008. IEEE International. :556-565 Apr, 2008

    Relation: 2008 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    مؤتمر
    Modeling of Interconnect Dielectric Lifetime Under Stress Conditions and New Extrapolation Methodologies for Time-Dependent Dielectric Breakdown

    المؤلفون: Haase, Gaddi S., McPherson, Joe W.

    المصدر: 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual Reliability physics symposium, 2007. proceedings. 45th annual. ieee international. :390-398 Apr, 2007

    Relation: 2007 IEEE International Reliability Physics Symposium Proceedings. 45th Annual

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    مؤتمر
    Fault localization and failure modes in microsystems-enabled photovoltaic devices

    المؤلفون: Yang, Benjamin B., Cruz-Campa, Jose L., Haase, Gaddi S., Tangyunyong, Paiboon, Cole, Edward I., Pimentel, Alejandro A., Resnick, Paul J., Okandan, Murat, Nielson, Gregory N.

    المصدر: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2013 IEEE International. :4B.2.1-4B.2.5 Apr, 2013

    Relation: 2013 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء