يعرض 1 - 10 نتائج من 17 نتيجة بحث عن '"Hamai, Takamasa"', وقت الاستعلام: 0.83s تنقيح النتائج
  1. 1
    مؤتمر
    Novel Operation Scheme for Suppressing Disturb in HfO2-based FeFET Considering Charge- Trapping-Coupled Polarization Dynamics

    المؤلفون: Hamai, Takamasa, Suzuki, Kunifumi, Ichihara, Reika, Higashi, Yusuke, Yoshimura, Yoko, Sakuma, Kiwamu, Ota, Kensuke, Takahashi, Kota, Matsuo, Kazuhiro, Fujii, Shosuke, Saitoh, Masumi

    المصدر: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS) Reliability Physics Symposium (IRPS), 2023 IEEE International. :1-5 Mar, 2023

    Relation: 2023 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  2. 2
    مؤتمر
    High-Endurance (>1011cycles) and Thermally-Stable Sub-100nm TiO2 Channel FeFET for Low-Power Memory Centric 3D-LSI Applications

    المؤلفون: Shiokawa, Taro, Ichihara, Reika, Hamai, Takamasa, Sakuma, Kiwamu, Takahashi, Kota, Matsuo, Kazuhiro, Saitoh, Masumi

    المصدر: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM) Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM), 2023 7th IEEE. :1-3 Mar, 2023

    Relation: 2023 7th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM)

    أضف إلى المفضلة
  3. 3
    مؤتمر
    Mechanism of HfO2-FeFET Memory Operation Revealed by Quantitative Analysis of Spontaneous Polarization and Trap Charge

    المؤلفون: Ichihara, Reika, Higashi, Yusuke, Suzuki, Kunifumi, Kusai, Haruka, Yoshimura, Yoko, Hamai, Takamasa, Kamiya, Yuta, Takahashi, Kota, Matsuo, Kazuhiro, Nakasaki, Yasushi, Miyagawa, Hidenori, Suzuki, Masamichi, Sakuma, Kiwamu, Kamimuta, Yuuichi, Saitoh, Masumi

    المصدر: 2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW) Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW), 2022 IEEE. :1-2 Jun, 2022

    Relation: 2022 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop (SNW)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  4. 4
    مؤتمر
    Accurate Picture of Cycling Degradation in HfO2-FeFET Based on Charge Trapping Dynamics Revealed by Fast Charge Centroid Analysis

    المؤلفون: Ichihara, Reika, Higashi, Yusuke, Suzuki, Kunifumi, Takano, Keisuke, Yoshimura, Yoko, Hamai, Takamasa, Takahashi, Kota, Matsuo, Kazuhiro, Nakasaki, Yasushi, Suzuki, Masamichi, Kamimuta, Yuuichi, Saitoh, Masumi

    المصدر: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) Electron Devices Meeting (IEDM), 2021 IEEE International. :6.3.1-6.3.4 Dec, 2021

    Relation: 2021 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)

    Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  5. 5
    تقرير
    Single-component molecular material hosting antiferromagnetic and spin-gapped Mott subsystems

    المؤلفون: Takagi, Rina, Hamai, Takamasa, Gangi, Hiro, Miyagawa, Kazuya, Zhou, Biao, Kobayashi, Akiko, Kanoda, Kazushi

    المصدر: Phys. Rev. B 95, 094420 (2017)

    مصطلحات موضوعية: Condensed Matter - Materials Science

    URL الوصول: http://arxiv.org/abs/1702.08254

    أضف إلى المفضلة
  6. 6
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  7. 7
    دورية أكاديمية
    Effects of tunneling-based access resistance in layered single-crystalline organic transistors

    المؤلفون: Hamai, TakamasaAff1, Arai, Shunto, Hasegawa, TatsuoAff1, Aff2

    المصدر: Journal of Materials Research. 33(16):2350-2363

    Find this article in full text from Springer Verlag. Find this article in full text from ProQuest Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
  8. 8
    層状結晶性有機半導体トランジスタのキャリア輸送に関する研究

    المؤلفون: Hamai, Takamasa

    وصف الملف: application/pdf

    URL الوصول: https://explore.openaire.eu/search/publication?articleId=jairo_______::4cf60a52fa5b58334ddeb76b920c5021
    https://repository.dl.itc.u-tokyo.ac.jp/records/2004844

    أضف إلى المفضلة
  9. 9
    دورية أكاديمية

    لا يتم عرض هذه النتيجة على الضيوف.

    View this record from ISI Web of Science
    أضف إلى المفضلة
  10. 10
    دورية
    Recovery of cycling-induced degradation of interfacial SiO2in HfO2-FeFET and its impact on retention characteristics

    المؤلفون: Schlykow, Viktoria, Suzuki, Kunifumi, Yoshimura, Yoko, Hamai, Takamasa, Sakuma, Kiwamu, Matsuo, Kazuhiro, Suzuki, Masamichi, Saitoh, Masumi, Ichihara, Reika

    المصدر: Japanese Journal of Applied Physics; February 2024, Vol. 63 Issue: 2 p02SP43-02SP43, 1p

    View this record from the Institute of Physics Full Text Finder
    أضف إلى المفضلة
أدوات البحث: أحصل على تغذية RSS – أرسل هذا البحث بالبريد الإلكتروني – حفظ البحث – جدول التنبيهات: لا شيء